Occasion HITS HFAI-1000D #293670434 à vendre en France

HITS HFAI-1000D Masque et Wafer L'équipement d'inspection est une solution hautement automatisée et de haute précision pour l'inspection des masques et des wafers. Le système est conçu pour répondre aux exigences exigeantes en matière d'assurance qualité, de détection des défauts et de détection avancée des défauts des lignes de production de semi-conducteurs modernes. L'unité dispose d'un étage XYZ de haute précision et d'une technologie de pointe de source lumineuse avec strobe avancé, lumière blanche, et éclairage UV. Logé dans une armoire compacte, HFAI-1000D dispose d'une interface utilisateur simple et intuitive qui permet une navigation facile et un contrôle précis. La qualité des images produites est encore améliorée par l'application de diverses techniques optiques, y compris le zoom automatique, du champ sombre au champ lumineux ou oblique, pour repérer et déterminer avec précision la taille et la forme des défauts. En outre, la machine dispose de capacités avancées de détection et d'analyse de défauts avec un logiciel optionnel qui fournit une approche intégrée à des centaines d'analyses de défauts pour produire des résultats d'inspection précis et fiables. Cette approche intégrée vise à améliorer considérablement la précision des qualifications et à réduire le temps nécessaire à la détection et à l'analyse des défauts. La conception et les caractéristiques de pointe de l'outil le distinguent des autres systèmes d'inspection des masques et des plaquettes. L'actif est également entièrement personnalisable et est livré avec diverses options d'inspection, en fonction des exigences du client. Le modèle est capable de fournir un support de production à la demande ainsi que ses configurations intégrées, son processus optimisé et sa mesure temps-cycle en temps réel. HITS HFAI-1000D convient à une production de volume moyen à élevé et est conçu pour offrir aux clients une flexibilité maximale. En outre, HFAI-1000D comprend également des fonctionnalités matérielles avancées telles qu'une conception entièrement intégrée, l'approche automatique du robinet, et la détermination de position à haute vitesse basée sur l'image. Ses capacités logicielles avancées permettent la collecte de grandes quantités de données de surface et l'analyse rapide des défauts en temps réel sur de grands ensembles de données. L'équipement est également livré avec des capacités d'image avancées telles que la reconnaissance automatique des défauts et la classification pour soutenir l'inspection visuelle à grande vitesse. Dans l'ensemble, le système HITS HFAI-1000D Mask & Wafer Inspection est une solution avancée pour les fabricants de semi-conducteurs qui ont besoin de performances fiables et efficaces.