Occasion HOLOGENIX NGS 3500 #9137097 à vendre en France

HOLOGENIX NGS 3500 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour détecter les défauts potentiels et améliorer le contrôle de la qualité. Sa fonction principale est de faciliter l'assurance qualité des procédés de fabrication des semi-conducteurs. Le système exploite l'optique avancée pour améliorer la précision et la rapidité de la détection, permettant aux équipes d'assurance de la qualité d'identifier rapidement les défauts potentiels dans la conception du processus ou l'exécution de la production. NGS 3500 utilise un séparateur de faisceau stabilisé et un zoom numérique pour fournir une imagerie détaillée et de haute qualité. Un objectif est utilisé pour amplifier les défauts microscopiques dans les matériaux de fixation, et l'unité peut fournir une gamme réglable de grossissements de 150X à 500X. Une machine d'éclairage intégrée éclaire l'échantillon sous de nombreux angles différents, permettant la détection des défauts dans des conditions d'éclairage complexes. L'imagerie 3D en temps réel de l'outil est précisément construite en combinant une série d'images prises à différentes profondeurs pour créer une image tridimensionnelle. Ce produit élimine la nécessité pour les utilisateurs d'interpoler manuellement plusieurs images. En conséquence, les temps d'inspection peuvent être considérablement réduits, et l'actif peut détecter des défauts aux niveaux macroscopique et microscopique. Le HOLOGENIX NGS 3500 dispose d'une interface d'exploitation conviviale, éliminant la nécessité de longues séances de formation ou d'intervention manuelle de la part de l'opérateur. Il combine les capacités d'acquisition et d'analyse d'images dans un modèle unique, permettant aux utilisateurs de traiter rapidement de grands volumes de données. En outre, il fournit des fonctions d'alerte pour détecter les tendances et les changements dans les conditions de surface du masque et de la plaquette. La NGS 3500 est un équipement très fiable d'inspection des masques et des plaquettes, car elle détecte non seulement les défauts mais améliore également le contrôle de la qualité. Grâce à ses caractéristiques intégrées, le système est capable de réduire le temps d'inspection et d'augmenter l'efficacité des processus dans l'industrie des semi-conducteurs.