Occasion HORIBA PR-PD2 #293778203 à vendre en France

HORIBA PR-PD2 est un système d'inspection de masque et de plaquettes très avancé conçu pour fournir une analyse haute précision et à grande vitesse des défauts critiques des masques et plaquettes de pointe. Le système se compose d'un Groupe d'inspection rapide à double source lumineuse, qui est équipé de deux sources lumineuses indépendantes, d'un objectif 8X et d'un large champ de vision. En outre, le système utilise un capteur CMOS avancé, permettant une capture d'image haute vitesse et haute résolution. Ceci est complété par le logiciel HORIBA Image Analysis Toolbox (HIAT), qui permet de détecter, d'identifier et de quantifier les défauts sur les masques et les plaquettes en cours de test. Le Dual Light Source High Speed Inspection Unit de HORIBA PR-PD 2 est capable de manipuler une grande variété de tailles, de formes et d'épaisseurs de plaquettes et de masques. Son objectif huit fois (8X) offre un large champ de vision, permettant une gamme complète de détection de défauts et de mesure critique. L'unité d'inspection à grande vitesse dispose d'une ouverture réglable, qui est utile pour contrôler la profondeur de champ et assurer une grande précision. Le capteur CMOS avancé fournit une capture d'image haute vitesse et haute résolution, permettant une résolution complète des défauts sur le masque ou la plaquette. Le capteur avancé est également soutenu par une suite complète d'outils de traitement d'image, y compris la cartographie des défauts 3D, le réglage automatique du contraste et l'algorithme de réduction du bruit. Le logiciel avancé HORIBA HIAT s'intègre à l'unité d'inspection à grande vitesse à double source lumineuse pour fournir une détection et une analyse robustes des défauts. Le logiciel utilise des algorithmes d'analyse de patrons et d'apprentissage automatique pour détecter, identifier et quantifier les défauts pour un traitement ultérieur. En outre, HIAT offre également de puissants outils de filtrage d'image pour permettre un filtrage précis et efficace des défauts. Il fournit également une suite d'algorithmes de processus de défauts, y compris le contrôle de distance de focalisation et le marquage statistique. Enfin, PR-PD2 combine de puissantes capacités matérielles et logicielles, fournissant une analyse précise et fiable des défauts critiques du masque et de la plaquette. L'unité d'inspection rapide à double source lumineuse et le capteur CMOS, combinés avec le logiciel HORIBA HIAT, offrent une solution efficace soit autonome, soit en ligne pour l'inspection et l'analyse des masques et des plaquettes. Toutes ces caractéristiques aident à assurer un examen précis et à effectuer des mesures critiques, en optimisant davantage les procédures de production.