Occasion ICOS WI-2000 #9239642 à vendre en France

ICOS WI-2000 est un équipement intégré d'inspection des masques et des plaquettes qui permet l'inspection de haute qualité des échantillons et la détection des défauts. Il est capable d'inspecter une grande variété de tailles de masques et de plaquettes avec des solutions automatisées adaptées à l'application et au processus de chaque utilisateur. WI-2000 offre une technologie avancée d'inspection assistée par ordinateur intégrée avec des capacités complètes de métrologie. Cela permet des mesures d'échantillons rapides, précises et reproductibles, avec l'importation et l'exportation des données, l'alignement des masques, l'analyse approfondie des défauts constatés et un flux de travail simplifié qui réduit le temps et le coût des frais généraux. ICOS WI-2000 est équipé d'un système de caméras ultramoderne intégré à des algorithmes avancés de traitement d'images. Il capture des images de masque et de plaquette haute résolution, y compris des défauts de haute contraste et des caractéristiques de toute taille. Une unité automatisée de détection des défauts est intégrée pour effectuer des recherches automatiques et sans erreur sur les surfaces des échantillons afin de sélectionner et de mesurer les caractéristiques, tandis qu'une suite d'algorithmes d'alignement des masques assure un bon positionnement des échantillons. Les capacités de métrologie optique et d'inspection de la machine sont améliorées grâce à des outils de vision par ordinateur pour automatiser les mesures des caractéristiques et des défauts. Les mesures de position d'échantillon ou de contour de masque sont automatisées, et des outils d'ingénierie sophistiqués permettent la reconnaissance et la comparaison de motifs avec des normes prédéfinies. En outre, WI-2000 comprend un outil logiciel flexible et puissant qui automatise des tâches complexes telles que l'importation et l'exportation de données, la comparaison d'images et de défauts, l'analyse d'histogrammes et la cartographie. Il prend également en charge le rendu des données 3D, l'analyse des données et la génération de rapports pour aider les utilisateurs à visualiser et à interpréter les données complexes rapidement et facilement. La combinaison ICOS WI-2000 de masque automatisé et d'inspection et de métrologie des plaquettes, associée à un logiciel convivial intuitif, fournit des résultats précis, fiables et reproductibles en peu de temps. Cela en fait un outil puissant pour l'inspection précise des masques et des plaquettes et la détection des défauts dans les environnements de fabrication des dispositifs semi-conducteurs.