Occasion ICOS WI-2200 #9183444 à vendre en France
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ID: 9183444
Wafer visual inspector, WI-2200
Includes:
Wafer handling system, MH200.
ICOS WI-2200 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour améliorer la précision et la rapidité de l'assurance qualité dans la fabrication des dispositifs semi-conducteurs. WI-2200 fournit une imagerie haute résolution et la détection des défauts pour identifier rapidement les contaminants, défauts ou autres problèmes qui peuvent affecter le produit fini. Le système utilise une technologie spécialisée pour effectuer un large éventail d'inspections de plaquettes et de masques sans intervention manuelle. Il supporte l'acquisition d'images, le traitement d'images et l'unité d'imagerie connectée pour surveiller et contrôler le processus d'inspection. La machine peut fonctionner à des vitesses élevées et basses, ce qui permet un retournement rapide de la production. ICOS WI-2200 offre deux types d'inspection : Les inspections de masques détectent les défauts potentiels dans les masques de lithographie utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs ; Les inspections des plaquettes permettent d'identifier les défauts potentiels dans les couches structurées de la plaquette elle-même, tels que les désalignements des fonctions structurées, les désalignements des litho-gravures et les défauts opto. L'outil est conçu pour détecter des concentrations de défauts de 0,1 micron et plus petites, en utilisant une variété de paramètres d'inspection pour affiner les résultats. Pour chaque inspection, il peut collecter jusqu'à 32 images multiples en mode contraste, couleur unique, et SXVF (segmenté multi-couleurs) modes. Il permet également de mesurer les chevauchements optiques, de résoudre les largeurs de lignes et de détecter les chevauchements au moyen d'une canne CCD spéciale (dispositif à couplage de charge). L'actif supporte une variété de tailles et de matériaux de plaquettes, ainsi que la plupart des systèmes de coordonnées optiques. Les fonctionnalités du WI-2200 sont rapidement accessibles via son interface utilisateur intuitive. Une variété d'outils d'automatisation, tels que l'analyse histogramme, la détection automatique des défauts, la capture d'image, le visionneur de cartes de plaquettes, les outils d'animation et le gestionnaire de défauts, aident à accélérer le fonctionnement de l'inspection et assurent des résultats cohérents. Le modèle peut également être connecté à une grande variété de formats de fichiers, y compris TIFF, JPEG, BMP, et FITS, pour le transfert et l'analyse de données. ICOS WI-2200 est un équipement de pointe pour détecter les défauts potentiels et garantir les plus hauts niveaux de qualité de production. Son fonctionnement efficace et puissant minimise les temps d'arrêt des équipements et garantit la cohérence et la fiabilité du processus de fabrication des dispositifs semi-conducteurs.
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