Occasion INSPECTECH ITWT 6020 #9266250 à vendre en France

INSPECTECH ITWT 6020 est un équipement automatisé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour les applications de semi-conducteurs. Le système utilise des techniques avancées d'optique, de traitement d'images numériques et de sondes pour analyser rapidement et avec précision les images microscopiquement résolues de la surface de la plaquette inspectée. L'unité dispose d'un microscope optique avec une plaque double inclinaison intégrée, des capteurs d'imagerie haute résolution et des outils de sondes. Cela permet une inspection détaillée des caractéristiques de la surface cible. La plaque double inclinaison permet une résolution maximale lors de l'imagerie à un angle, donnant une excellente résolution angulaire et tenant compte de la courbure ou inclinaison de la surface de la plaquette. Couplé à la technologie de capteur nouvelle génération haute résolution, ITWT 6020 fournit une image claire de la surface à une profondeur de couleur de 24 bits par pixel pour l'affichage et l'analyse d'images haute définition. INSPECTECH ITWT 6020 utilise également des outils de sondes pour extraire des données analytiques à partir d'images. La machine est capable de détecter un large éventail de caractéristiques de surface, y compris des défauts microscopiques, des contaminants, ou d'autres anomalies de surface. Cela comprend des techniques spéciales telles que la surface des plaquettes en forme d'elliptique, la détection automatique des défauts et l'élimination des particules. En termes de résultats, l'outil ITWT 6020 offre des résultats rapides et précis. Les mesures peuvent être effectuées dans un état à la fois statique et dynamique pour une imagerie précise, ce qui suggère que l'actif peut suivre avec précision les changements dans les structures des plaquettes au fil du temps. En conclusion, INSPECTECH ITWT 6020 est un modèle avancé d'inspection automatisée des masques et des plaquettes. L'équipement offre une imagerie haute résolution, une analyse de surface précise et des résultats rapides et fiables. Cela en fait un choix idéal pour toutes les applications de semi-conducteurs et les processus d'inspection.