Occasion INTEK PLUS IMAS-2000 #9385508 à vendre en France

INTEK PLUS IMAS-2000 Masque et Wafer Inspection Equipment fournit une solution efficace et rentable pour des applications telles que l'inspection des cellules solaires, l'inspection des dispositifs semi-conducteurs, l'emballage avancé et l'inspection des dispositifs flip-chip. Ce système est une unité d'imagerie avancée et fiable spécialement conçue pour inspecter à la fois le masque opaque et transparent, les pellicules et les plaquettes, avec des performances précises de la source lumineuse, l'acquisition rapide d'images et l'imagerie haute résolution pour une détection supérieure des défauts. IMAS-2000 a été conçu avec automatisation, simplicité et évolutivité en tête. Les fonctions d'automatisation telles que l'acquisition automatisée d'images, le traitement automatisé d'images et l'inspection automatisée offrent une solution automatisée de bout en bout avec une intervention minimale de l'utilisateur. La machine est modulaire et évolutive, permettant d'ajouter ou de supprimer des modules d'acquisition d'images et d'inspection automatisée au besoin. La source lumineuse INTEK PLUS IMAS-2000 est constituée de sources d'éclairage à la fois diffuses et directes. La source d'éclairage diffuse est configurée pour des applications de champ lumineux fournissant des éclairages uniformes indépendants chromatiques. La source d'éclairage direct est configurée pour les applications en champ sombre et est équipée d'une commande d'obturateur pour optimiser les niveaux de contraste. L'outil d'acquisition d'image est configuré avec un capteur d'acquisition d'image avec une résolution de pixel 2048 x 2048 utilisable pour l'imagerie ultra haute résolution. IMAS-2000 fournit également un traitement d'image haute puissance capable de détecter des défauts subtils et des extensions logicielles pour des capacités de traitement personnalisées pour des tâches d'inspection uniques. Les algorithmes de détection automatisés utilisent des algorithmes pour la classification des caractéristiques et l'identification des sources. Cela permet d'améliorer la précision et la cohérence du processus d'inspection. Les algorithmes avancés tels que la détection des bords, l'optimisation des contrastes et la reconnaissance des motifs automatisent l'image pour détecter les défauts. Dans l'ensemble, INTEK PLUS IMAS-2000 est un outil fiable et avancé d'inspection des masques et plaquettes conçu pour détecter efficacement les défauts subtils dans un large éventail d'applications. Sa conception modulaire permet une plus grande flexibilité et personnalisation, tandis que les fonctions automatisées offrent une précision supérieure et une supervision manuelle. Ce modèle est une excellente solution pour les cellules solaires, les dispositifs semi-conducteurs, les emballages avancés et l'inspection des dispositifs flip-chip.