Occasion JONAS & REDMANN 5001002261 #9289500 à vendre en France

L'équipement d'inspection des masques et plaquettes JONAS&REDMANN 5001002261 est un système très précis et précis pour la détection des défauts dans les circuits à semi-conducteurs. Il s'agit d'une unité entièrement automatisée qui peut détecter à la fois de gros et de petits défauts sur les masques et les plaquettes. La machine est équipée d'un réseau de capteurs optiques capables d'identifier des défauts non visibles tels que des rayures sur les masques, des vides sur les plaquettes et des couches de contamination pouvant provoquer des raccourcis électriques. La haute résolution de l'outil fournit une excellente capacité de détection même dans les conceptions les plus complexes. Il peut également détecter des défauts qui ne sont visibles que sous un grossissement extrême. L'actif est équipé d'un modèle d'acquisition de données à grande vitesse pouvant mesurer jusqu'à 1000 points par seconde, offrant un degré élevé de précision et de vitesse pour la détection des défauts. Cet équipement permet de mesurer avec précision l'épaisseur et la largeur des fils utilisés dans les circuits, ainsi que la constante diélectrique de la plaquette. Ces caractéristiques le rendent particulièrement efficace pour analyser et détecter les problèmes dans les dispositifs haute densité tels que le câblage multicouche et l'emballage 3D. En plus de ses capacités de détection, 5001002261 masque & wafer système d'inspection dispose également d'une unité d'analyse d'image avancée qui peut identifier, analyser et classer les différents défauts qu'il trouve. Cela comprend l'identification des défauts dans les masques, les plaquettes, les paquets et la conception des fils, ainsi que l'analyse de la topographie de surface de la plaquette. Cette machine permet une plus grande précision et fiabilité des résultats d'inspection. L'outil d'inspection des masques et plaquettes JONAS&REDMANN 5001002261 est un atout avancé et puissant qui peut aider à garantir que seuls les circuits de qualité supérieure sont utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs. Il est conçu pour être utilisé avec une gamme d'autres systèmes et technologies d'inspection, tels que l'imagerie 3D et le balayage laser pour s'assurer que les défauts sont détectés et évités de causer des défaillances graves dans les dispositifs semi-conducteurs utilisés dans les produits finaux.