Occasion K-MAC Ster #293650375 à vendre en France

K-MAC Ster est un équipement automatisé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour augmenter le débit et réduire les coûts d'inspection pour les procédés de fabrication des semi-conducteurs. Le système utilise des caméras avancées, des algorithmes et des techniques de reconnaissance de motifs pour effectuer des scans complets des plaquettes et des masques pour les anomalies et les défauts. L'unité Ster robuste et légère combine une wafer haute résolution et une caméra d'inspection de masque, un illuminateur haute puissance fiable et une unité de traitement d'image pour fournir des résultats d'inspection fiables et précis. La machine est capable d'inspecter simultanément des masques simples ou multiples et peut détecter des défauts à la fois globaux et locaux. En outre, l'outil est conçu pour être hautement personnalisable, permettant aux utilisateurs de configurer une analyse personnalisée en quelques minutes. K-MAC Ster fournit plusieurs modes d'analyse, allant de la détection de défauts bruts à l'analyse de sous-pixels. En utilisant des algorithmes de reconnaissance de motifs et des paramètres d'inspection, l'actif peut localiser et identifier les défauts rapidement et avec précision. De plus, le modèle est équipé d'une variété de paramètres de définition des défauts qui permettent aux utilisateurs de personnaliser les critères d'analyse pour correspondre à leurs exigences spécifiques. L'amélioration de la qualité d'image de Ster réduit également considérablement les fausses alarmes. Les fausses alarmes sont des déclencheurs sonores qui se produisent en raison de paramètres d'équipement incorrects ou d'une interprétation incorrecte d'un défaut. Il en résulte des opérations de retravaillement coûteuses et étendues. Cependant, les fonctionnalités sophistiquées d'amélioration d'image comme l'affûtage d'image, le dénoisement et les algorithmes d'amélioration des bords réduisent les fausses alarmes et augmentent considérablement la précision. Pour améliorer encore la fiabilité du système, K-MAC Ster effectue également des mesures rapides et précises de la taille et de l'emplacement des défauts, qui peuvent être utilisés pour suivre les défauts sur plusieurs cycles de masque et de plaquette. De plus, l'unité de gestion intégrée des défauts permet aux utilisateurs d'examiner, de modifier et de stocker un nombre illimité d'inspections et de comparer les résultats sur plusieurs scans. En plus de fournir une détection rapide et précise des défauts, Ster est conçu pour simplifier le flux de travail et améliorer la productivité de l'opérateur, permettant aux utilisateurs d'obtenir des rendements plus élevés, des coûts moindres, et des performances améliorées. En conséquence, K-MAC Ster est le choix idéal pour les laboratoires de fabrication de semi-conducteurs à la recherche d'un masque automatisé et d'une machine d'inspection des plaquettes qui peuvent fournir des résultats de haute qualité d'une manière rentable et très efficace.