Occasion KLA / ICOS CI 8250 #293591794 à vendre en France

KLA/ICOS CI 8250 est un équipement efficace et puissant d'inspection des masques et des plaquettes qui a été conçu pour répondre aux exigences des lignes de production de semi-conducteurs. L'objectif principal du système est de fournir des performances et une précision élevées dans la détection et la prévention des défauts dans la production de microélectronique. Il peut détecter même les défauts minuscules des couches de masque et de plaquette permettant leur retrait rapide de la chaîne de production. L'unité KLA CI 8250 est équipée de matériel avancé, de logiciels et d'optique pour détecter avec précision les défauts aux niveaux de la plaquette et du masque. Son optique haute performance peut détecter même les plus petits défauts, fournissant des résultats de détection et d'analyse supérieurs. En outre, la machine est capable de scanner des images haute résolution des couches de masque et de plaquette avec une profondeur de focalisation jusqu'à 16 microns. Ces images vives permettent une analyse minutieuse des défauts présents dans les couches et leur contrôle rapide. L'outil dispose également d'une fonction de sécurité en cas de défaillance, qui garantit que seuls les défauts dépassant le seuil de détection peuvent être identifiés et corrigés. Cela en fait un outil important pour assurer la qualité des dispositifs microélectroniques qui quittent la ligne de production. De plus, l'actif soutient également le processus d'inspection automatisé, minimisant davantage la possibilité de défauts manqués et réduisant l'erreur humaine. Le modèle ICOS CI-8250 peut être facilement intégré dans les lignes de production existantes et nécessite une configuration minimale. Il est également très flexible et peut être adapté aux exigences et spécifications exactes de la chaîne de production, permettant une plus grande efficacité et précision dans la détection et la correction des défauts. En outre, l'équipement est livré avec une interface conviviale permettant un fonctionnement facile et la possibilité de passer rapidement entre différents modes et inspecte différents sous-systèmes. Dans l'ensemble, KLA/ICOS CI-8250 est un système efficace et puissant d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour répondre aux besoins rigoureux de l'industrie des semi-conducteurs. Le matériel, le logiciel et l'optique de pointe de l'unité permettent la précision et la rapidité dans la détection et l'élimination des plus petits défauts, assurant seulement des produits de qualité sont mis en production.