Occasion KLA / ICOS CI 8250 #293602014 à vendre en France

KLA/ICOS CI 8250 Masque et Wafer Inspection Equipment est une solution complète d'inspection automatisée haute performance. Conçu pour les applications de masque et de plaquette, il utilise des caméras haute résolution avancées et des étages de mouvement à double axe alimentés pour analyser et détecter les défauts des dispositifs microélectroniques. L'inspection est un facteur essentiel dans la fabrication des dispositifs semi-conducteurs et KLA CI 8250 utilise des technologies avancées de reconnaissance des motifs pour garantir une grande précision et répétabilité. Chaque appareil est inspecté étape par étape, en commençant par simplement imiter chaque pièce et identifier les bords et autres caractéristiques avant de passer à la phase d'inspection détaillée. Le système dispose d'une gamme complète de fonctionnalités et de capacités pour garantir des performances et une fiabilité élevées. La plaquette et le masque peuvent être simultanément lus et analysés, et chacune des deux caméras offre 1.2x et 5x grossissements pour une précision maximale. La focalisation peut également être ajustée à tout moment du processus pour améliorer la précision. Un algorithme sophistiqué de reconnaissance de motifs exécute alors le processus d'inspection. L'unité peut détecter des défauts mineurs, des sites morts, et d'autres problèmes jusqu'à 1µm dans la plaquette et 0,14µm dans les applications de masque. ICOS CI-8250 comprend également une série d'outils logiciels pour améliorer le processus avec des métriques de qualité, des analyses de rendement et d'autres métriques de données. Ces capacités avancées permettent à la machine de détecter un large éventail de défauts à des niveaux de sous-microns avec une grande précision et répétabilité. L'outil offre une inspection à la fois statique et dynamique, cette dernière permettant des itérations multiples si un défaut est détecté ; cela fournit une vérification puissante pour l'assurance de la qualité sur une large gamme de produits. En plus de ses capacités d'inspection avancées, ICOS CI 8250 offre également la création automatique de recettes et des capacités sécurisées de gestion des données de test. L'interface utilisateur dispose d'une conception simple et intuitive, ce qui facilite la mise en place et l'utilisation de l'actif. Le modèle répond à toutes les normes de sécurité pertinentes et est compatible avec une large gamme de procédés semi-conducteurs. Dans l'ensemble, CI-8250 Mask and Wafer Inspection Equipment est une solution automatisée avancée pour la détection précise et répétable des défauts dans les pièces semi-conductrices. Il dispose d'un large éventail de capacités, y compris des caméras haute résolution, la détection de sous-microns, et des processus d'inspection multi-étapes, associés à des fonctionnalités logicielles avancées pour l'assurance de la qualité et la gestion sécurisée des données de test.