Occasion KLA / ICOS CI 8250 #9053897 à vendre en France

KLA/ICOS CI 8250 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes très avancé. Il est conçu pour détecter, analyser et classer divers défauts sur les photomasques à semi-conducteurs et les plaquettes pendant le processus de fabrication. Le système comprend une unité d'inspection optique, une machine de nettoyage des plaquettes et des masques et un outil de classification des défauts. L'actif d'inspection optique avancée a trois têtes optiques différentes qui peuvent accueillir chacune différentes tailles de masque et de plaquette. Chaque tête peut détecter une variété de différentes dimensions et types de défauts, tels que la largeur de ligne ou les variations de forme, inclusions de matériaux étrangers, brume, vides, warpage, et d'autres irrégularités de surface. Le modèle de nettoyage des plaquettes et des masques est conçu pour nettoyer soigneusement les masques et les plaquettes avant l'inspection, offrant une précision maximale. Cet équipement utilise des technologies et des procédés propriétaires qui sont capables d'éliminer même les plus petites particules de la surface. Enfin, le système de classification des défauts qui est composé d'algorithmes puissants de traitement d'image qui sont conçus pour identifier chaque type de défaut. Cela permet à l'unité non seulement de détecter la présence d'un défaut, mais aussi de classer avec précision chaque type de défaut pour une analyse plus poussée. La machine peut même classer la gravité d'un défaut particulier, permettant des stratégies correctrices optimales pendant le processus de fabrication. Dans l'ensemble, KLA CI 8250 est un outil puissant et sophistiqué d'inspection des masques et des plaquettes qui peut garantir une haute qualité et précision tout au long du processus de fabrication des semi-conducteurs. Sa capacité à détecter et à classer avec précision divers types de défauts permet aux fabricants d'identifier et de traiter les problèmes potentiels rapidement et efficacement. L'actif est capable de réduire le temps, les matériaux et les coûts de main-d'œuvre associés à la correction des défauts dans le processus de fabrication, ce qui en fait un outil inestimable pour tout fabricant de semi-conducteurs.