Occasion KLA / ICOS CI 8250 #9110005 à vendre en France

KLA/ICOS CI 8250 est un équipement automatisé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'exécution à haute précision et en volume des étapes critiques de traitement des semi-conducteurs. KLA CI 8250 utilise une combinaison de pointe de la technologie de traitement d'image et de détection des défauts pour permettre l'identification rapide et précise des défauts sur les masques et les plaquettes. En détectant et en corrigeant les erreurs au début du processus de fabrication, le système peut aider à réduire les coûts associés aux retards de retravaillement et aux pertes de rendement. ICOS CI-8250 est équipé d'une unité optique avancée avec un objectif avancé corrigé de l'infini/apochromatique/corrigé du plan pour un échantillonnage fidèle des grilles à haute résolution, ce qui est essentiel pour améliorer la précision de la détection des défauts. Son éclairage personnalisable dispose d'un motif d'éclairage à zone variable, permettant l'inspection des défauts de masque et de plaquette avec une grande flexibilité et une uniformité optimale. CI-8250 est capable d'effectuer des mesures de défauts de haute précision grâce à l'intégration d'un certain nombre de mesures de défauts spécifiques au dispositif. La technologie d'inspection 3D de haute précision intégrée peut mesurer les caractéristiques des appareils jusqu'à 70nm avec une précision sans précédent, permettant une identification et une classification optimales. La machine supporte également l'alignement flexible masque/plaquette pour une efficacité améliorée, avec la capacité d'identifier et d'aligner les types de motifs avec une précision de recouvrement de 30nm. Les puissantes capacités d'analyse de ICOS CI 8250 peuvent réduire le bruit de données exclusives complexes provenant de sources disparates. L'outil permet l'analyse prédictive en combinant les algorithmes prédictifs puissants avec les données de processus recueillies à partir de sources multiples à travers le plancher de fabrication. Cela fournit des aperçus sur les performances futures des appareils, permettant des stratégies de résolution proactive. L'analyse prédictive peut également aider à identifier, trier et classer les défauts au niveau du dispositif pour optimiser les résultats de rendement. L'atout prend également en charge les langages web standard tels que XML, JSON et MQTT, permettant un échange de données sans faille entre celui-ci et les systèmes externes. Il est également compatible avec les principaux logiciels dont JTAG, IEEE1532 standard Edition 2. Il est également soutenu par un support prioritaire et des processus de certification d'usine rigoureux pour la plus haute qualité de service. Dans l'ensemble, le CI 8250 fiable et complet est le choix idéal pour l'inspection de masque et de plaquettes à haut volume et haute précision. Il mesure et évalue les masques/plaquettes avec une grande précision et permet une analyse prédictive pour une inspection efficace des appareils.