Occasion KLA / ICOS CI 8250 #9111213 à vendre en France

KLA/ICOS CI 8250 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Cet outil automatisé combine des systèmes optiques et logiciels avancés pour détecter, classer et mesurer rapidement et avec précision les défauts potentiels sur les plaquettes pendant le processus d'inspection. KLA CI 8250 utilise un microscope optique à haute résolution de champ lumineux avec une résolution de 5 nanomètres, ainsi qu'un système de reconnaissance de motifs de points de contact individuels en parallèle. Cela permet à l'unité de capturer, classer et mesurer une grande variété de défauts, y compris les rayures, les débris de particules, la rugosité des bords de ligne, les trous et les dislocations partielles. La machine peut également détecter des changements dans les dimensions critiques, permettant un contrôle de qualité efficace. ICOS CI-8250 dispose également de fonctionnalités logicielles avancées. Il comprend une série d'outils logiciels pour aider à l'analyse des défauts, y compris un logiciel d'analyse d'image par défaut (IMAX), un logiciel d'examen des défauts (FOTOS) et un logiciel d'analyse par analyse (WAVER). Ces outils permettent aux utilisateurs de classer et quantifier rapidement les défauts, et d'avertir les ingénieurs de processus lorsque les défauts dépassent une valeur seuil. En outre, CI 8250 comprend une interface conviviale, permettant un fonctionnement efficace et intuitif. Il dispose également d'une automatisation robotique avancée, permettant la manipulation et le tri automatisés des échantillons. Plusieurs porte-échantillons peuvent être utilisés, y compris des porte-échantillons plats, des porte-échantillons de réseau d'intégrité du signal et des porte-échantillons pas à pas. Cela permet aux utilisateurs d'optimiser CI-8250 pour une variété d'applications d'inspection et d'analyse. En résumé, le masque KLA CI-8250 et l'outil d'inspection des plaquettes fournissent des systèmes optiques et logiciels puissants pour évaluer rapidement et avec précision les défauts potentiels au cours du processus d'inspection. Cet outil automatisé est conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs et dispose d'une automatisation robotique avancée, d'interfaces conviviales et d'une série d'outils logiciels pour aider à l'analyse des défauts.