Occasion KLA / ICOS CI 8250 #9156475 à vendre en France

KLA / ICOS CI 8250
ID: 9156475
Style Vintage: 2002
Lead inspection system 2002 vintage.
KLA/ICOS CI 8250 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes développé pour la production de semi-conducteurs à haut volume. Le système dispose d'une technologie d'imagerie optique sans contact, avec une large gamme de grossissements allant de 5x à 800x. Cela permet à l'unité de détecter des défauts jusqu'à 25 nanomètres de taille. La machine dispose également d'une capacité brevetée d'éclairage laser à double lumière (IDD) qui permet de détecter les défauts contextuels, y compris les motifs ou les défaillances. L'outil comprend également une multitude de fonctionnalités logicielles. Il dispose d'un logiciel qui peut identifier automatiquement les caractéristiques sur le masque ou la plaquette, identifier les défauts typiques, puis rejeter ou accepter les plaquettes en conséquence. Cet actif peut détecter avec précision une gamme de modèles et de caractéristiques, y compris ceux qui sont en ligne, isolés ou répartis au hasard. Il a également des capacités pour l'examen des défauts multi-vues et le comptage des défauts. D'autres caractéristiques de KLA CI 8250 comprennent un modèle d'alignement de plaquettes entièrement automatique, ainsi que des fonctions de focalisation automatique, d'exposition et d'inclinaison de masque. Cela garantit que les caractéristiques peuvent être efficacement alignées et l'équipement d'imagerie maintient une parfaite focalisation sur la plaquette ou le masque tout en l'inspectant. Le logiciel qui est inclus avec ICOS CI-8250 comprend un système d'analyse d'images en ligne (OIA) qui permet la détection et l'analyse en temps réel des défauts, et il dispose également d'une unité de reconnaissance directe des défauts (DDR) pour une classification automatisée rapide et précise des défauts. CI-8250 est une machine d'inspection haute performance conçue pour les environnements de production de semi-conducteurs les plus exigeants. Il est capable de détecter de petits défauts rapidement et avec précision, et peut être utilisé aussi bien dans la chaîne de production que dans le laboratoire de recherche. Sa vaste gamme de grossissements, ses capacités DLI et ses fonctionnalités logicielles en font l'un des systèmes d'inspection des plaquettes et masques les plus avancés disponibles.
Il n'y a pas encore de critiques