Occasion KLA / ICOS CI 9450 #9159878 à vendre en France

ID: 9159878
Style Vintage: 2012
Lead inspection system Camera: Yes HDD: No 2012 vintage.
KLA/ICOS CI 9450 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour offrir des performances et une précision exceptionnelles pour les opérations d'inspection des semi-conducteurs et des masques. Il est basé sur la technologie éprouvée KLA ICOS™, fournissant une solution automatisée et robuste pour l'inspection des défauts et le contrôle itératif des processus. Au cœur du système se trouve un étage de plaquettes de haute précision à 5 axes qui supporte l'imagerie automatisée et précise des masques et plaquettes de grande surface. Associée à de puissantes capacités de traitement d'image, la KLA CI 9450 permet une inspection optique détaillée, ce qui lui permet de contrôler les défauts et les processus. ICOS CI-9450 utilise la métrologie en dimension critique bidimensionnelle (CD 2D) pour mesurer et surveiller les plus petites caractéristiques sur un masque ou une plaquette. Il est équipé d'un réseau d'étages robotiques de précision à cinq axes et d'une source de lumière utilisée pour représenter avec précision la surface. La source lumineuse transmet une image contrôlée sur l'objet, qui est alors détectée par les caméras CCD. Ces informations sont ensuite traitées par l'unité de traitement d'image et comparées aux normes. Toute anomalie ou divergence entre les normes et les mesures est relevée et signalée. La précision de l'imagerie et de la métrologie ICOS CI 9450 est encore renforcée par une machine d'imagerie 3D sans contact qui utilise un module autofocus et un laser, lui permettant de mesurer avec précision la géométrie 3D des masques et des plaquettes avec une grande précision. La conception modulaire de l'outil le rend flexible et évolutif, de sorte qu'il peut être adapté à différentes applications. KLA CI-9450 est capable d'analyser les défauts et de contrôler les processus d'itération, assurant ainsi une production sans défaut. Il peut détecter même les défauts les plus difficiles grâce à l'imagerie automatisée, haute résolution, défectuosité ponctuelle, et l'éclairage directionnel. Il dispose également d'une bibliothèque d'algorithmes et d'outils de tendance statistique, qui fournissent des données de contrôle de processus et de vérification de conception. CI 9450 est un atout puissant et fiable pour l'inspection des semi-conducteurs et des masques. Il propose une imagerie et une analyse des défauts automatisées et précises, avec des outils avancés de métrologie et de détection des défauts. Le modèle est construit avec des composants et des logiciels robustes, capables de fournir des résultats d'inspection visuelle précis. CI-9450 est un choix idéal pour obtenir des performances maximales dans la production de masques et de plaquettes.
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