Occasion KLA / ICOS CI 9450 #9159892 à vendre en France

KLA/ICOS CI 9450 Masque & Wafer Inspection Equipment est une technologie d'imagerie de pointe conçue pour détecter les défauts des masques optiques et des plaquettes semi-conductrices. Ce système d'inspection avancé utilise une caméra ultra haute résolution, des algorithmes de métrologie et d'inspection avancés, et une unité de traitement automatisée des plaquettes pour effectuer une inspection d'image transmissive de substrats opaques tels que des films masques, des substrats non silicium et des semi-conducteurs composés. La machine offre un éventail de fonctionnalités et d'avantages pour optimiser le processus d'inspection. L'outil d'inspection dispose d'un scatteromètre laser synchrone qui permet l'imagerie à grande vitesse et la métrologie. Cela permet à l'actif de détecter et de mesurer les défauts subtils et les motifs à la surface d'un masque ou d'une plaquette. En outre, le modèle dispose d'une géométrie verticale qui aide à augmenter le débit et la précision. L'optique avancée de l'équipement garantit une inspection extrêmement uniforme, ce qui facilite la détection des irrégularités. Le système est également capable d'effectuer une variété d'options automatisées de manipulation des plaquettes. Il a un berceau de balayage qui peut localiser avec précision les défauts, ainsi que des capacités de cartographie automatisée. KLA CI 9450 Mask & Wafer Inspection Unit est également capable de capturer, d'imager et de manipuler d'énormes quantités de données avec sa plate-forme de calcul haute performance. Cela lui permet de détecter et d'identifier rapidement même les défauts les plus complexes. La machine comprend également des algorithmes d'inspection avancés qui lui permettent de traiter d'énormes quantités de données et de prendre des décisions intelligentes. Cela donne un niveau supplémentaire de précision et de rapidité au processus d'inspection. L'outil d'inspection dispose également d'une mémoire étendue, lui permettant de stocker l'ensemble des données d'inspection. Ceci est utile pour calculer et analyser les métriques de défauts. ICOS CI-9450 est une technologie d'imagerie avancée conçue pour inspecter avec précision les masques optiques et les plaquettes semi-conductrices. Ses fonctionnalités de pointe, ses algorithmes avancés et ses capacités de manipulation automatisée des plaquettes garantissent la plus grande précision et la plus grande vitesse d'inspection. Cet atout est une solution fiable et rentable pour s'assurer que les masques et les plaquettes répondent à des normes de qualité exigeantes.