Occasion KLA / ICOS CI 9450 #9173936 à vendre en France

KLA/ICOS CI 9450 Wafer Inspection Equipment est un masque de haute précision et un système d'inspection des plaquettes qui est utilisé pour détecter les défauts dans les structures de couches minces. Cette unité utilise des tests optiques, électriques et de procédé avancés pour analyser les plaquettes et masques semi-conducteurs pour détecter les défauts qui peuvent entraîner de mauvaises performances du dispositif ou des pertes de rendement potentielles. La machine utilise des suites logicielles sophistiquées et des techniques de traitement d'image pour détecter et classer les défauts en temps réel, fournissant une plate-forme automatisée d'examen des défauts pour les processus d'assurance qualité. KLA CI 9450 Masque et Wafer Inspection Tool est conçu pour fournir une détection rapide et précise des défauts critiques et des défauts de matériaux sur une large gamme de substrats. Il intègre une combinaison unique de capacités optoélectroniques, de traitement d'image et de mesure de film pour assurer une couverture complète pour la détection des défauts et l'examen des défauts. L'actif est équipé d'une plate-forme optique à double champ de vision pour l'inspection à grande surface et la classification des défauts, et d'un appareil photo numérique haute résolution pour capturer les images des défauts et des motifs d'intérêt. Les algorithmes d'imagerie avancés sont conçus pour détecter les défauts à une variété de grossissements et de traiter une grande variété de types de défauts. ICOS CI-9450 Wafer Inspection Model intègre une variété d'outils de pointe conçus pour assurer le plus haut niveau d'assurance de la qualité. Cela comprend un module centré sur la matrice pour l'inspection automatisée et la classification des défauts en fonction des emplacements de la matrice, ainsi qu'un algorithme 1D avancé pour le tri et la classification des défauts. Cet équipement fournit une foule de fonctionnalités pour simplifier le processus d'examen des défauts, y compris l'examen automatisé des défauts et les bibliothèques de modèles de défauts. Une fonction d'auto-étalonnage qui s'adapte aux influences propres au processus est également incluse. Enfin, le logiciel offre une interface utilisateur intuitive, permettant aux opérateurs d'accéder rapidement aux données et de revoir les résultats. KLA CI-9450 Wafer Inspection System est un outil essentiel pour les fabricants de plaquettes et masques semi-conducteurs, fournissant une plate-forme complète d'examen des défauts qui est à la fois fiable et précis. Cette unité offre un large éventail de capacités, y compris l'examen automatisé des défauts, l'identification des défauts, le tri et la classification des défauts, et les bibliothèques de modèles de défauts. En outre, la machine fournit des fonctionnalités robustes, y compris l'auto-étalonnage pour les influences propres au processus, et une interface utilisateur intuitive. Avec ces fonctionnalités, KLA/ICOS CI-9450 Wafer Inspection Tool assure le plus haut niveau d'assurance de la qualité dans le processus critique masque et wafer inspection.