Occasion KLA / ICOS CI 9450 #9253653 à vendre en France

KLA/ICOS CI 9450 masque and wafer inspection equipment est un système complet et complet d'image masque et wafer conçu pour identifier et évaluer les défauts dans les applications de lithographie IC semi-conducteur et d'emballage IC. L'unité combine les algorithmes optiques et de vision les plus récents, des capteurs de pointe et du matériel de traitement de la vision haut de gamme pour fournir des performances supérieures de détection et de classification des défauts. KLA CI 9450 masque et wafer inspection machine est équipée d'une caméra haute résolution avec une large gamme de capacités de mesure. Avec un large champ de vision pouvant atteindre 100 microns, l'outil est capable de détecter et de mesurer les défauts des plaquettes sur tous les types et tailles de plaquettes. La caméra est également équipée d'un zoom automatisé permettant une détection précise et répétable des défauts. Le masque ICOS CI-9450 et le matériel d'inspection des plaquettes utilisent des algorithmes de pointe brevetés pour la caractérisation et la classification des défauts. Ces algorithmes sont capables d'identifier des défauts avec un degré élevé de précision et de fiabilité. Le modèle est également équipé d'un équipement de classification avancé capable de distinguer les différents types de défauts et de les classer par taille, type et autres caractéristiques. Le système d'inspection des masques et plaquettes CI 9450 est conçu pour le fonctionnement à grande vitesse et offre des contrôles flexibles de l'opérateur, permettant à l'utilisateur de personnaliser les opérations en fonction de ses besoins de production. L'unité est également très évolutive, permettant aux utilisateurs d'étendre les capacités de leur machine à mesure que leurs besoins de production augmentent. CI-9450 masque et outil d'inspection des plaquettes est conçu avec une large gamme de capacités de détection et d'analyse des défauts, permettant une identification rapide et précise des défauts. Grâce à ses capacités d'analyse des fautes, l'actif peut caractériser avec précision le type, l'emplacement et la gravité des fautes et fournir des rapports détaillés pour une analyse plus approfondie. Le modèle KLA CI-9450 masque et wafer inspection est un outil fiable et polyvalent qui fournit l'identification et la caractérisation des défauts de haute performance pour assurer la réussite des applications de lithographie et d'emballage IC. Avec ses algorithmes avancés et brevetés et son rapport coût-efficacité, il est un élément essentiel de toute installation de production d'IC.