Occasion KLA / ICOS CI-T120 #293812626 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour assurer une détection et une classification rapides et précises des plaquettes opto-électroniques. Ce système combine deux technologies, un algorithme d'alignement die-to-database et une unité d'imagerie KLA. L'algorithme d'alignement die-to-database de la machine offre une correspondance complète entre les plaquettes et les masques de circuit pour permettre l'identification détaillée des défauts avant qu'une seule plaquette ne soit terminée. Cette caractéristique garantit une qualité d'assemblage maximale en attrapant les erreurs dans les premiers stades de la préparation des plaquettes. L'outil d'imagerie ICOS utilise une variété d'optiques avancées, de capteurs et d'éclairage LED pour générer des images crues de toute la surface de la plaquette. Cet actif d'imagerie capture à la fois les données de détection des défauts et d'analyse des défaillances, qui peuvent être utilisées pour des rapports complets sur les défauts de wafer et de circuit. KLA CI T120 intègre également des algorithmes de filtrage avancés, qui sont utilisés pour réduire les faux positifs, améliorer la sensibilité et étendre la couverture des défauts à l'ensemble de la matrice. Ce modèle offre également des capacités d'imagerie peu lumineuses pour améliorer la détection des défauts. Les données complètes sur les défauts et les capacités de déclaration de l'équipement permettent d'identifier rapidement les défauts de puce ou les erreurs de fabrication des plaquettes. Ceci, combiné à la vitesse et à la précision d'inspection élevées du système, en font un choix idéal pour les processus de production de plaquettes modernes. L'unité est facile à utiliser et à entretenir, ce qui la rend adaptée à la fois pour les techniciens expérimentés et les nouveaux utilisateurs. En outre, ICOS CI T-120 masque et wafer inspection machine offre des options de connectivité améliorées telles que Ethernet, USB et Wi-Fi, ainsi que plusieurs options périphériques différentes, y compris, mais pas seulement, une imprimante laser intégrée. Il est également compatible avec les grandes marques de plaquettes semi-conductrices. Dans l'ensemble, l'outil KLA/ICOS CI T-120 masque et wafer inspection est une solution puissante et fiable pour détecter et classer rapidement et avec précision les wafers IC opto-électroniques. Sa vitesse d'inspection rapide et précise et ses capacités complètes de détection et de signalement des défauts en font un choix idéal pour les processus de production de plaquettes modernes.