Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9101540 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un masque de haute précision et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour la fabrication avancée de semi-conducteurs. Il fournit des capacités avancées de détection et de diagnostic des défauts de masque et de plaquette, ce qui le rend idéal pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs de pointe. KLA CI T120 est basé sur une plate-forme modulaire qui combine deux systèmes de capteurs et d'éclairage en une seule unité. Ces systèmes comprennent un capteur de zone CMOS, une solution d'optique IQ ² brevetée et un système d'éclairage avancé. Le capteur de zone a une résolution de 24 mégapixels, et dispose d'un canal proche infrarouge spécial pour améliorer le contraste et la résolution. L'unité d'optique IQ ² fournit un grossissement jusqu'à 350x, et une profondeur de champ étendue pour l'imagerie haute résolution améliorée. La machine d'éclairage dispose de sources lumineuses LED et UV, permettant des applications polyvalentes avec une opimisation rapide. ICOS CI T-120 offre également des capacités complètes d'examen et de détection des défauts. Il effectue une gamme complète d'examens de défauts, tels que les défauts de masque, les défauts de motif, les copies de motifs et les examens de contamination de film. Il effectue également la détection automatisée des défauts, y compris la détection et l'examen des particules, et la mesure de la forme. KLA CI T-120 a une large gamme dynamique et des intensités de champ élevées, offrant une détection maximale des défauts et une précision de mesure. ICOS CI T120 est facile à utiliser et fournit des résultats rapides grâce à son mode de révision automatisé des défauts. Il est conçu pour être intégré dans les procédés de fabrication des semi-conducteurs, fournissant des solutions d'inspection complètes pour les procédés semi-conducteurs avancés tels que le collage des plaquettes et l'emballage des puces. L'outil est également équipé d'outils logiciels puissants qui permettent l'analyse rapide des données, la manipulation des images et le reporting. En résumé, KLA/ICOS CI T-120 est un masque de haute précision et un outil d'inspection des plaquettes conçu pour les applications semi-conductrices les plus exigeantes. Ses capacités complètes de détection et de diagnostic des défauts, combinées à sa facilité d'utilisation, en font une solution idéale pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs avancés.