Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9162541 à vendre en France

KLA / ICOS CI-T120
ID: 9162541
Style Vintage: 2008
Inspection system For GW 10H 3D GW Inspection (10) Heads Automatic pitch conversion X1 Input module X2 & X3 Output modules Windows OS: Win Xp Extra single tray sorting bin (X4) Display: LCD display, 17" Gull wing 3D inspection BGA 3D and bottom PVI inspection No 2D QFN / BCC Univ top plate Mark and aPVI option No burr inspection Mark inspection 45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter Barcode scanner USB ZCAL Gloden unit CSP Gloden unit GW Gloden unit GWT12 Gloden unit GW Inspection tool kit BGA Inspection tool kit Z1 10 Head CI-T1x0 Z2 Dual fixed head No ionizer kit SUNX standard Tray orientation kit (nf) Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM 2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120 masque & wafer inspection equipment est un outil d'imagerie conçu pour la production de circuits intégrés utilisés dans divers produits électroniques. Il fournit un balayage rapide et non destructif et mesure des masques et des plaquettes pour les impuretés et les défauts. Le système intègre des technologies avancées de métrologie, d'examen des défauts et de contrôle des processus afin d'assurer une inspection fiable et des résultats précis. KLA CI T120 est une unité haute performance dont le débit peut atteindre 3850 wafers par heure. Il est conçu pour détecter même les plus petits défauts jusqu'à 0.5microns et plus petit. Il utilise des techniques avancées d'éclairage et d'imagerie pour fournir une mesure précise de la topographie des plaquettes 3D. La machine comprend une caméra couleur polyvalente et une tête d'inspection avec un champ de vision rotatif continu de 360 °. L'outil dispose d'Auto Partitioning, qui reconnaît, identifie et étiquette automatiquement chaque région de masque/plaquette, fournissant ainsi un alignement, un enregistrement et une comparaison précis. Il appuie à la fois le désalignement et la détection rotationnelle des défauts permettant la classification, l'examen et le dénombrement des défauts. Il peut également évaluer la conception et la taille des défauts, permettant la détection de défauts communs tels que les particules et les grappes de particules. ICOS CI T-120 comprend de puissants outils de mesure de plaquettes tels que Digital Marker Assisted Registration et Auto Focus pour garantir une localisation rapide et précise de la plaquette. Il utilise un éclairage LED avancé pour l'imagerie et l'analyse de haute précision. Son suivi automatisé permet également une collecte, une analyse et une extraction rapides et cohérentes des données des plaquettes. De plus, l'ensemble électronique et logiciel de l'actif permet un transfert et une communication rapides des données. En outre, le modèle KLA/ICOS CI T-120 est conçu pour un fonctionnement et un entretien faciles avec une excellente cohérence de processus sur une large gamme de lots de production, assurant des résultats fiables et reproductibles. Sa fonction Moniteur d'équipement fournit un diagramme détaillé en temps réel de tous les paramètres de processus pertinents, ce qui facilite la maintenance et l'optimisation. Avec son logiciel Workbench convivial, les utilisateurs peuvent personnaliser les icônes, les outils, le script et le comportement d'action pour l'optimisation ou le contrôle des processus.
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