Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9190203 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un équipement d'inspection optique à haute vitesse, à double faisceau, utilisé pour l'inspection des plaquettes et masques à semi-conducteurs. Il s'agit d'une solution économique pour identifier les défauts sur les plaquettes semi-conductrices lors des processus avant et arrière de fabrication de circuits intégrés. KLA CI T120 est capable de détecter de très petits défauts tels que des défauts de particules, des rayures, des vides et des non-conformités sur les plaquettes et les masques. Le système utilise deux microscopes à balayage synchronisé pour examiner les plaquettes et les masques en combinant l'éclairage des champs lumineux, l'imagerie de la lumière transmise et l'imagerie des champs sombres. L'éclairage lumineux détecte facilement les défauts de particules tandis que la technologie d'imagerie lumineuse transmise identifie les défauts de sous-microns, y compris les vides. L'imagerie de champ lumineux sombre fournit un contraste élevé et des images de haute résolution pour une caractérisation optimale des défauts. ICOS CI T-120 comprend une capacité avancée de traitement automatique du signal avec des seuils programmables de détection des défauts. Cela permet à l'unité de détecter automatiquement les défauts et de minimiser les fausses alarmes. ICOS CI T120 a une taille de champ maximale de 3 pouces (7,62 cm) et fournit un taux d'acquisition de données allant jusqu'à 1,3 mégapixels/sec. Il dispose également de 8 bits et 12 bits de profondeur de bit de pixel, qui permettent à la machine de capturer et d'analyser avec précision même les plus petits défauts. Il est compatible avec une variété de supports tels que CD, DVD, cassettes et disques durs. L'outil est équipé d'une interface graphique simple et intuitive, qui aide les opérateurs à inspecter les plaquettes et les masques rapidement et efficacement. L'actif peut être intégré à un modèle de fabrication de semi-conducteurs existant, permettant une mise en œuvre et une intégration faciles. Il comprend également une gamme d'options logicielles pour s'assurer qu'il peut être personnalisé et configuré pour répondre aux exigences spécifiques de chaque client. Dans l'ensemble, KLA CI-T120 est un équipement d'inspection puissant conçu pour fournir une évaluation et une analyse des défauts de haute précision et rentable pour les plaquettes et masques à semi-conducteurs. Son optique à double faisceau, ses capacités programmables de détection des défauts et son taux d'acquisition élevé lui permettent d'identifier avec précision même les plus petits défauts. Son interface conviviale, sa compatibilité avec divers supports et sa capacité d'intégration en font un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs.