Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9208705 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes qui est utilisé pour détecter les défauts dans la fabrication des semi-conducteurs. Le système est composé de trois composants : un sous-système de traitement d'image, un sous-système d'inspection des plaquettes et un sous-système de contrôle. Le sous-système de traitement d'images utilise un spectromètre d'imagerie, une unité d'autofocus et une machine d'optique d'imagerie pour recueillir des images de divers substrats, y compris des photomasques, des plaquettes, des matrices et d'autres surfaces, puis les convertir en points de données d'image. Ces données d'image sont ensuite utilisées pour détecter des défauts. Le sous-système d'inspection des plaquettes est composé d'un ensemble de systèmes avancés de lithographie et d'un outil d'alignement multi-filières. Les systèmes de lithographie sont utilisés pour modeler avec précision la surface de la plaquette pour créer des caractéristiques de l'appareil. L'actif d'alignement multi-filières est utilisé pour localiser, ajuster et aligner avec précision les matrices pour s'assurer qu'elles sont toutes dans la même orientation. Le sous-système de contrôle est chargé de contrôler la séquence des opérations et de s'assurer que les résultats des inspections sont exacts. Le sous-système comprend également un processeur central, une unité mémoire, une unité de contrôle d'entrée/sortie, et une liaison de communication. Le processeur est chargé de contrôler les opérations du modèle tandis que l'unité mémoire stocke les données collectées par le sous-système de traitement d'images et les systèmes de lithographie. L'unité d'entrée/sortie est utilisée pour transférer des données vers et depuis l'équipement tandis que la liaison de communication permet de connecter le système à d'autres systèmes. KLA CI T120 masque et unité d'inspection des plaquettes est une machine fiable et précise pour localiser et quantifier rapidement les défauts dans la fabrication des semi-conducteurs. C'est un outil idéal pour l'assurance qualité dans la fabrication des IC et autres dispositifs semi-conducteurs. Les systèmes de traitement d'image et de lithographie de l'outil fournissent des résultats précis avec une excellente résolution, tandis que son sous-système de contrôle assure un fonctionnement efficace et fiable de l'actif.