Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9232787 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes, conçu pour être utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. C'est un système avancé capable de répondre aux besoins complexes de traitement des semi-conducteurs d'aujourd'hui. L'unité utilise des technologies avancées d'imagerie et de logiciels pour améliorer la précision et la sensibilité par rapport aux systèmes traditionnels. KLA CI T120 est livré avec plusieurs technologies de pointe telles que des capacités d'inspection optique infrarouge de haute puissance, qui sont utilisés pour détecter les imperfections sous-jacentes de la structure des puces, ainsi que des outils de laser et d'imagerie avancés qui permettent l'imagerie précise et l'inspection optique des formes de masques et de plaquettes. En outre, la machine contient un moteur de recherche puissant qui permet de récupérer rapidement les dessins de mise en page et la documentation connexe, ainsi que des fonctionnalités avancées d'étalonnage automatique des outils qui assurent la précision et la cohérence des mesures effectuées. La conception modulaire d'ICOS CI T-120 permet une adaptation facile aux différents besoins des applications. Différentes options incluent différentes pièces d'imagerie et d'inspection optique, qui peuvent être facilement modifiés en fonction des exigences de l'application. De plus, CI T-120 contient une imagerie en champ proche qui permet de détecter des défauts jusqu'à des niveaux inférieurs à microns, offrant des capacités d'imagerie à plus haute résolution et de détection de défauts complexes. L'actif utilise différentes optiques pour fournir à la fois une large couverture en longueur d'onde et des capacités d'imagerie en bande étroite. Dans l'ensemble, ICOS CI T120 est un modèle avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui offre une précision et une sensibilité accrues par rapport aux méthodes traditionnelles. Sa conception modulaire lui permet d'être adapté à différentes applications, et ses capacités d'inspection optique infrarouge de grande puissance et d'imagerie en champ proche lui procurent une excellente résolution et une détection complexe des défauts.