Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9256279 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 Mask and Wafer Inspection Equipment est une solution d'imagerie avancée conçue pour l'inspection des masques et des plaquettes utilisés dans les emballages semi-conducteurs avancés. Le système combine une optique avancée et des capteurs d'imagerie à haute sensibilité pour fournir des performances supérieures et une inspection et une classification précises des défauts. KLA CI T120 a une unité optique construite à partir d'une combinaison de lentilles et de miroirs. Cela garantit que les images à très haute résolution peuvent être capturées pour créer des résultats d'inspection détaillés. En outre, ICOS CI T-120 est équipé d'un réseau de capteurs avancés pour la détection directe des défauts. Le réseau de capteurs fonctionne en capturant des motifs dans la lumière diffusée sur la surface de l'échantillon, ce qui lui permet de détecter des imperfections de surface, telles que des trous de contact, des tranchées et d'autres caractéristiques. CI T120 offre une excellente précision et sensibilité pour les défauts. Ses algorithmes de détection de motifs très précis peuvent détecter des défauts avec une résolution submicronique et alerter l'opérateur en temps réel, réduisant le temps nécessaire à l'inspection manuelle. En outre, la machine supporte les comparaisons de deux images prises d'un même échantillon, qui peuvent être utilisées pour identifier les changements entre les deux images et alerter l'utilisateur des défauts potentiels. ICOS CI T120 est équipé d'un moteur de traitement d'image de pointe. Cela permet à l'outil d'ajuster les motifs du masque à toute orientation souhaitée ou de modifier le contraste ou la luminosité de toute caractéristique d'image spécifique. L'actif a également la capacité de mesurer les changements de niveau de seuil avant et après le traitement et d'appliquer des filtres à l'image, éliminant le bruit indésirable pour assurer un résultat d'inspection précis. KLA CI T-120 utilise une bibliothèque numérique pour stocker les images et les données défectueuses, permettant à l'utilisateur de facilement rappeler les ensembles de données et d'examiner les résultats. Il peut également être consulté à distance via le Web ou une connexion Ethernet, ce qui en fait une solution fiable et sécurisée pour le masque d'appareil mobile et l'inspection des plaquettes. Dans l'ensemble, ICOS CI-T120 Mask and Wafer Inspection Model est une solution d'imagerie puissante et sophistiquée conçue pour fournir une qualité d'image supérieure et une détection précise des défauts. C'est un excellent choix pour ceux qui recherchent une solution fiable et sûre pour l'inspection des masques et plaquettes utilisés dans les emballages semi-conducteurs.