Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9360771 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 Mask & Wafer Inspection Equipment est un outil de mesure de précision très avancé conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable d'automatiser le processus d'inspection ainsi que d'augmenter la précision et l'efficacité globales. Le système consiste en un outil d'imagerie laser de champ lumineux, qui est utilisé pour mesurer et inspecter un large éventail de caractéristiques sur les masques et les plaquettes, y compris les images optiques, les motifs de ligne et les surfaces planes. Il est équipé d'un microscope optique de 10 mégapixels en couleur, conçu pour fournir des images haute résolution dans une variété de paramètres. L'unité fournit également une gamme de fonctionnalités avancées qui peuvent être utilisées pour personnaliser ses performances, telles que la capture de données variables, les configurations de référence programmables, ainsi que plusieurs capacités de contrôle de la qualité et de détection des défauts. La machine KLA CI T120 est conçue pour maximiser l'efficacité de la production. Il offre des mesures rapides, fiables et précises, avec jusqu'à 100 % de fiabilité des données. L'outil est équipé d'un « modèle multi-axes » unique qui peut mesurer les caractéristiques verticales et latérales sur de grandes zones de la plaquette, avec une combinaison d'un microscope longue distance de travail, et un étage d'échantillonnage automatisé. En outre, l'actif supporte le traitement avancé des images et les algorithmes de détection des fonctionnalités, qui permettent de déterminer les défauts sur la base de normes prédéterminées. Le modèle ICOS CI T-120 offre également une gamme de fonctionnalités qui permettent aux fabricants de semi-conducteurs d'adapter leurs performances à leurs besoins spécifiques. Cela comprend des fonctionnalités telles qu'un module d'éclairage LED plein spectre et un étage auto-focus, qui aident à faciliter des mesures plus rapides et plus précises. Il est également équipé d'un équipement intégré de capture de données tout-en-un, qui peut stocker des mesures pour jusqu'à 8 configurations différentes. ICOS CI-T120 est un système convivial, avec des commandes logicielles simples et une interface utilisateur intuitive. CI T-120 Masque et Wafer Inspection Unit est un outil avancé et fiable qui est conçu pour aider les fabricants de semi-conducteurs à maximiser la précision, la vitesse et l'efficacité. Il fournit une gamme de fonctionnalités et de capacités, qui peuvent être adaptées aux besoins spécifiques de l'utilisateur. Avec sa combinaison de capacités d'imagerie supérieures, de mesures automatisées et d'algorithmes avancés de détection de défauts, la machine offre une précision et une fiabilité remarquables et offre un grand retour sur investissement.