Occasion KLA / ICOS CI-T120 #9360928 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T120 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes qui offre une solution d'inspection fiable et complète. Le système contient des étages XY intégrés pour permettre un contrôle de précision dans le placement des plaquettes ou des masques dans l'unité. La machine utilise un outil d'inspection optique 2D qui est optimisé pour l'imagerie de grande surface et fine fonctionnalité. L'atout optique est constitué d'un étage XY motorisé de haute précision, d'une lentille optique télécentrique à focale fixe et d'une caméra Linescan ou CCD. Le champ de vision et la profondeur de mise au point sont réglables, ce qui permet l'acquisition optimale d'images de plaquettes ou de masques présentant des caractéristiques et des épaisseurs variables. Le modèle est équipé de la puissance pour conduire un équipement de contrôle d'illumination, imprimante/traceur, processeur d'image, et unité d'analyse d'image. Le système d'éclairage est conçu pour assurer une luminance uniforme sur tout le champ de vision et éliminer toute non-uniformité, ce qui améliore la qualité de l'image et même la détection des défauts. L'imprimante/traceur permet de charger des fichiers de programme de chemin et permet d'imprimer des images pour examen. Le processeur d'image permet à l'opérateur d'ajuster des paramètres tels que seuil ou échelle de gris, contraste et grossissement. Il dispose d'une bibliothèque d'images intégrée et peut comparer des images d'inspection avec des images de référence pour détecter toute déviation. L'unité d'analyse d'image permet la détection automatisée des défauts, y compris l'identification et la mesure des défauts. L'unité a une sensibilité de détection élevée et peut détecter à la fois des défauts en spécification et hors spécification. Il dispose également d'une machine efficace de gestion des défauts, permettant aux opérateurs d'examiner et de classer les défauts. KLA CI T120 est un outil fiable et complet d'inspection des masques et plaquettes qui offre une grande précision et résolution. Il est conçu pour détecter et mesurer les caractéristiques non dimensionnelles et dimensionnelles, et peut facilement être personnalisé pour des applications spécifiques. Son architecture robuste en fait un atout idéal pour les applications de détection et de mesure des défauts.