Occasion KLA / ICOS CI-T1X0 #9351874 à vendre en France

KLA/ICOS CI-T1X0 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'inspection des défauts de haute performance dans les nœuds de technologie avancée. Il offre une large gamme de configurations qui permettent aux clients de personnaliser leurs systèmes d'inspection pour des performances d'inspection optimisées et pour des tailles de plaquettes et de masques. La configuration de base comprend un module de balayage de 6 pouces par 8 pouces, ce qui facilite les capacités d'inspection à haute résolution. En outre, le système est compatible avec une variété de tailles de plaquettes jusqu'à 200mm. KLA CI-T1X0 dispose d'une unité d'éclairage connue sous le nom de microscope à haute ouverture numérique revêtu d'air (AHN). Cette machine d'imagerie optique de haute précision est conçue pour détecter et se concentrer sur les plus petits défauts sur les surfaces du masque et de la plaquette. De plus, la source lumineuse de l'outil est un illuminateur planaire, qui peut être réglé pour un alignement parfait de l'imagerie. La caméra haute définition intégrée fournit une imagerie de défaut rapide et précise. Il est équipé d'un capteur Hi-Vision, qui est réglé pour capter même les plus petits défauts, de 0,8 μ m et plus. De plus, l'atout est programmé avec l'algorithme de l'outil, ce qui contribue à améliorer le contraste et la résolution, assurant une détection précise des défauts. Le modèle est construit avec des composants durables et résistants aux vibrations tels que le mandrin de plaquette durci, pour assurer un balayage et une imagerie de haute précision. En outre, ICOS CI T1X0 est équipé de puissantes capacités de calcul, qui sont conçues pour traiter les données reçues du microscope et de la caméra. Pour chaque session de numérisation des plaquettes, l'équipement génère et stocke un rapport de défaut détaillé, incluant l'emplacement, la taille et le type du défaut. KLA CI T1X0 est encore amélioré avec les dernières technologies logicielles et l'analyse avancée pour soutenir l'inspection précise des plaquettes et des solutions rapides aux problèmes de surface complexes. Le logiciel amélioré de contrôle des processus est un outil d'analyse puissant qui permet d'identifier les tendances et les questions d'intérêt dans les conditions de surface et les défauts. Dans l'ensemble, KLA/ICOS CI T1X0 est un puissant système d'inspection des masques et des plaquettes pour les nœuds de technologie avancée. C'est une unité extrêmement fiable et efficace conçue pour fournir des résultats d'inspection de haute qualité, assurant la détection précise des défauts, même les plus petits.