Occasion KLA / TENCOR 2131 #293752263 à vendre en France

KLA / TENCOR 2131
ID: 293752263
Style Vintage: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 2131 est un dispositif utilisé pour l'inspection visuelle des masques et plaquettes à semi-conducteurs, offrant des capacités complètes d'inspection des défauts avec une précision supérieure aux méthodes traditionnelles. L'équipement dispose d'un large éventail de caractéristiques et d'applications qui peuvent être adaptées aux besoins spécifiques, ce qui en fait un outil indispensable dans la fabrication de semi-conducteurs. Le système utilise la technologie d'ombrage brevetée, qui utilise des capteurs pour détecter la présence de défauts dans les masques et les plaquettes semi-conducteurs. Il applique alors un algorithme pour déterminer l'emplacement exact et la taille de chaque défaut. Pendant le fonctionnement, l'unité peut détecter des rayures, des particules, des vides, des non-irrégularités et d'autres contaminants. De plus, pour chaque type de défaut, la machine peut déterminer la couleur et la luminosité de la surface, ainsi que la taille du défaut. Avec cette information, l'outil signale les défauts potentiels de la plaquette ou du masque pour une enquête plus approfondie. En plus de la détection des défauts, l'actif offre également une variété d'options d'imagerie pour des applications telles que la superposition, la planéité et les mesures de largeur de ligne. Le modèle est livré avec une suite logicielle qui comprend un visionneur 3D, permettant à l'utilisateur de visualiser plusieurs images à la fois et facilement naviguer à travers eux. Il a également la capacité de détecter les défauts matériels dans la plaquette, tels que la tranchée de diamant, la détection d'étapes, et plus encore. L'équipement lui-même est logé dans une armoire sécurisée et contrôlée par l'environnement et se compose d'un écran LCD couleur haute résolution et d'un ensemble de tête de détection optique. La tête optique est rotative sur 360 degrés avec une résolution angulaire de 0,001 degrés. Le système dispose également de LED et de prismes pour différencier les fonctionnalités, ainsi que de plusieurs filtres intégrés pour ajuster l'intensité lumineuse ou changer le spectre de l'image. KLA 2131 est une unité très fiable et précise utilisée pour la détection et l'évaluation des défauts sur les masques et plaquettes semi-conducteurs. Ses algorithmes avancés, combinés à des composants optiques supérieurs, offrent une précision et des performances inégalées. La machine est également facile à utiliser, et est livré avec plusieurs applications logicielles conviviales. En conclusion, c'est un outil inestimable pour la fabrication de semi-conducteurs et un choix idéal pour les applications de contrôle de qualité.
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