Occasion KLA / TENCOR 2131 #293820148 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR 2131 Masque et Wafer Inspection est une plate-forme de détection des défauts de wafer qui utilise des technologies avancées de reconnaissance des motifs pour détecter et analyser les défauts sur les wafers. Il s'agit d'une plate-forme complète pour la fabrication des réticules et des plaquettes qui permet d'identifier rapidement les défauts jusqu'à la zone la plus petite, à la fois en résolution régulière et ultra haute. Le système dispose d'une sélection de fonctionnalités avancées pour assurer une détection précise, rapide et efficace des défauts. L'unité comprend un microscope optique haute résolution avec une machine d'imagerie numérique pour une précision maximale, une capacité de balayage à grande vitesse pour une couverture de grande surface et un débit élevé, et un ordinateur industriel dédié pour le traitement et l'analyse rapides des données. L'outil fournit également une analyse spectroscopique avancée pour détecter de faux défauts et de faux négatifs, et peut être configuré pour exécuter une variété d'algorithmes spécifiques d'analyse de défauts. L'actif comprend également une interface d'analyse complète des défauts pour permettre un examen et une analyse détaillés des résultats. Ceux-ci comprennent des diagrammes, des graphiques et des images qui peuvent être utilisés pour identifier et classer les défauts. L'analyse automatisée des défauts, l'ajustement des seuils de balayage et l'analyse des faux défauts sont également disponibles pour rationaliser le processus. Dans l'ensemble, le modèle KLA 2131 Masque et Wafer Inspection est conçu pour offrir une combinaison imbattable de précision, de vitesse et d'efficacité. La combinaison de technologies avancées de balayage et de fonctionnalités détaillées d'analyse des défauts en fait un choix idéal pour un large éventail d'applications, y compris la fabrication avant et arrière-bout de circuits intégrés. Ses performances fiables et sa facilité d'intégration dans les systèmes existants en font également un choix attrayant pour la détection des défauts de plaquettes.