Occasion KLA / TENCOR 2131 #293821531 à vendre en France

KLA/TENCOR 2131 est un équipement d'inspection de haute précision conçu pour repérer les micro-défauts dans les matériaux semi-conducteurs les plus complexes. Le système combine l'optique de niveau suivant, l'éclairage et la technologie de capture d'image pour identifier même les anomalies ou les contaminations les plus microscopiques sur les surfaces avec une combinaison inégalée de répétabilité, de précision et de sensibilité. KLA 2131 est conçu avec une unité optique double fournissant une imagerie supérieure des lignes de grains et des particules minuscules. La machine Dual Channel Light Tool produit jusqu'à un milliard d'angles d'éclairage différents qui sont mesurés et ajustés pour des résultats optimaux. Avec l'option d'un atout double caméra, l'utilisateur peut choisir soit un angle uptilted pour un champ de vision plus large, soit un angle oblique pour une image haute définition. La fonction trous de guidage permet de positionner avec précision la plaquette sur la scène, de sorte que la plaquette peut être inspectée sous de multiples angles. TENCOR 2131 est équipé d'un nouveau modèle laser de reconnaissance qui identifie des défauts aussi petits que 0.1um. Cette technologie de pointe est conçue pour permettre l'analyse des images de défauts pour déterminer leurs caractéristiques et permettre l'optimisation des flux de processus. En outre, 2131 a la capacité d'analyser avec précision à travers des couches contenant de multiples structures de filière, ce qui le rend encore plus capable de détecter des défauts ultra-minuscules. Le modèle est également armé d'une suite complète d'outils de correction d'image, pour inclure Auto Focus, qui utilise des algorithmes uniques pour faire ressortir les détails des structures fines à partir de motifs de plaquettes complexes et les inspecter clairement. Le logiciel d'inspection permet à l'utilisateur de créer rapidement des modèles complexes et d'utiliser facilement l'équipement. KLA/TENCOR 2131 est conçu pour offrir une performance optimale et fournit une solution fiable, efficace et rentable pour l'assurance de la qualité et la résolution de problèmes dans l'industrie des semi-conducteurs. Les caractéristiques du système aideront à s'assurer que les dimensions, les formes et les emplacements des défauts peuvent être identifiés avec précision et uniformité de façon répétée, offrant aux clients des performances de détection de défauts inégalées.