Occasion KLA / TENCOR 2131 #9186639 à vendre en France

KLA/TENCOR 2131 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes. Il s'agit d'un dispositif automatisé et contrôlé par ordinateur qui fournit une imagerie ultra haute résolution pour l'inspection des défauts de masque et de plaquette avec un logiciel avancé de mesure à grande vitesse, d'analyse optique et statistique. Les technologies optiques avancées fournissent des détails d'image supérieurs et des capacités de reconnaissance d'image pour les masques semi-conducteurs et les plaquettes. L'optique utilise un système d'éclairage laser avec une caméra CCD haute résolution (dispositif à couplage de charge), fournissant des images de défaut clair. Il comprend un réseau de diodes linéaires à faible bruit et une lentille de zoom à haute résolution espacée de l'air. L'unité de caméra peut agrandir l'élément inspecté jusqu'à un facteur 256X et a une mesure maximale de 0,12 microns de ligne et d'espace, fournissant une résolution et une sensibilité suffisantes pour effectuer une petite fonction de détection des défauts critiques. KLA 2131 a une étape d'échantillonnage multiple qui peut être isolée afin de fournir un environnement propre et sans poussière. Sa machine de vision automatisée permet de détecter et d'identifier automatiquement les défauts qui vont au-delà de l'imagerie traditionnelle. Il peut également analyser les défauts faibles, tels que le pontage, en continuant à scanner après la détection d'un défaut. L'outil combine une gamme d'applications logicielles avancées pour fournir une analyse complète de l'image et la classification des défauts. Il comprend une série complète d'outils optiques avancés pour la caractérisation des défauts, tels que la classification des défauts, la détection des arêtes et l'analyse de polarité. Il comprend également une variété d'outils statistiques et de visualisation qui fournissent des mesures utiles de la distribution des défauts. L'actif d'inspection TENCOR 2131 offre une productivité et une précision élevées, avec une identification et une classification rapides des défauts pour classer et signaler les défauts avec précision. Son logiciel de pointe est conçu pour une utilisation facile, avec une interface graphique qui permet aux utilisateurs de surveiller, d'analyser et d'examiner rapidement et facilement les données. Dans l'ensemble, 2131 est un puissant modèle d'inspection de masque et de plaquettes, fournissant des capacités d'imagerie haute résolution, d'analyse d'image avancée et de classification des défauts, et des capacités logicielles supérieures. Sa combinaison de technologies optiques et logicielles de pointe en fait une solution fiable et rentable pour l'inspection des semi-conducteurs.