Occasion KLA / TENCOR 2131E #9384640 à vendre en France

ID: 9384640
Style Vintage: 1995
Wafer inspection system 1995 vintage.
KLA/TENCOR 2131E Equipment est un système d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour évaluer l'intégrité et l'uniformité des différents circuits intégrés. Il utilise des techniques avancées de microscopie optique pour diagnostiquer et réparer rapidement et avec précision les petits défauts et contaminants qui peuvent être présents dans une variété de substrats. L'unité est construite sur la plate-forme KLA 2131E, qui est capable à la fois d'imagerie et de sonder pour générer avec précision des images couleur complètes 24 bits et effectuer des mesures de précision sur une variété de substrats. Il utilise un algorithme à haute résolution très évolué pour images rapides à grande vitesse avec des défauts extrêmement faibles. La machine utilise également des capteurs géométriques et une technologie d'imagerie numérique rapide pour détecter et mesurer des défauts aussi petits que 1 micron. Ses capacités de mesure rapides et précises permettent d'améliorer les rendements sur plusieurs types d'appareils. TENCOR 2131 E a la capacité d'identifier et de traiter de grands lots de plaquettes, jusqu'à 20 000 plaquettes par heure. L'outil est très réglable, permettant aux utilisateurs de configurer l'actif aux besoins de chaque ensemble d'échantillonnage. Le modèle a également la capacité d'inspecter les films métalliques, tels que le cuivre et l'aluminium, ainsi que la céramique et le verre, créant des profils de chaque matériau. En outre, il peut mesurer la surenduite et d'autres contaminants qui peuvent affecter la performance du produit. 2131 E L'équipement a également la capacité de détecter certains défauts et petites particules qui peuvent être passés inaperçus avec les microscopes optiques traditionnels. Le système peut détecter la contamination des particules, ainsi que les imperfections dans la plaquette, de la surface à l'arrière. Il a également la capacité de localiser les dommages électriques causés par les défauts de photorésistance ou de gravure, ainsi que les particules étrangères noyées dans la plaquette. L'unité possède également des fonctionnalités supplémentaires telles que la classification avancée des défauts et des outils de traitement d'image, des listes de défauts automatisées et des rapports de lots à grande vitesse. L'interface conviviale et la configuration très visuelle de la machine facilitent le fonctionnement et la compilation rapide des données nécessaires. L'outil KLA 2131 E est une solution idéale pour inspecter avec précision et rapidité une variété de matériaux. Il a la capacité de détecter et d'analyser les plus petits défauts, et ses capacités d'imagerie rapides et précises en font un excellent choix pour une variété d'applications de l'industrie.
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