Occasion KLA / TENCOR 2131E #9384645 à vendre en France

ID: 9384645
Style Vintage: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 2131E est un équipement d'inspection haute performance, masque et plaquette conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. C'est la dernière en date de la série de systèmes d'inspection multi-canaux basés sur l'image de l'UCK. Ce système utilise un éventail avancé d'outils et de technologies informatiques qui fournissent une approche complète et systématique pour l'inspection des plaquettes, des masques et d'autres pièces composites. KLA 2131E est basé sur la plate-forme de technologie TENCOR, composée d'une suite d'algorithmes d'inspection avancés et d'outils d'imagerie. Cette unité est capable de détecter la contamination, les défauts, les imperfections et les variations sur la surface des articles inspectés. En outre, la machine peut mesurer les tailles, les angles, les tolérances et d'autres paramètres importants. L'outil d'inspection avancé utilise également la technologie brevetée de capteur de luminosité qui produit une qualité d'image supérieure à celle des modèles précédents. Cette technologie garantit qu'aucun détail sur la surface des objets inspectés ne soit manqué. L'actif utilise des capteurs d'imagerie CMOS de haute précision et multi-mégapixels qui fournissent jusqu'à 12 millions de pixels par trame. TENCOR 2131 E offre également une vaste gamme de programmes d'inspection conçus spécifiquement pour l'évaluation efficace et complète des défauts. Ce modèle de pointe est doté d'une interface utilisateur intuitive qui lui permet de sélectionner facilement les critères et paramètres d'inspection les plus appropriés. 2131 E offre des performances rapides et fiables avec un débit maximum de 14000 wafers par heure. Cet équipement délivre le débit le plus élevé de sa classe et est conçu pour atteindre une utilisation élevée en fonctionnement. Il offre également des temps de cycle réduits et une capacité quasi infinie de collecte et d'analyse de données en vol. En outre, KLA/TENCOR 2131 E est équipé d'un système avancé de diagnostic de défaut. Cela permet à l'utilisateur d'identifier et de dépanner rapidement les problèmes potentiels, réduisant les temps d'arrêt et améliorant l'efficacité. Cette unité permet également de suivre et d'analyser les plaquettes en temps réel, de réduire considérablement les temps de mise en place et d'accélérer la production. Dans l'ensemble, 2131E est une puissante, précise, et efficace masque et wafer inspection machine qui peut aider à assurer les résultats de la plus haute qualité. Ses fonctionnalités avancées en font l'un des systèmes les plus avancés sur le marché, ce qui en fait une solution idéale pour de nombreuses entreprises et industries.
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