Occasion KLA / TENCOR 2132 #135009 à vendre en France

KLA/TENCOR 2132 est un équipement d'inspection Masque et Wafer conçu pour améliorer le rendement, la qualité et la fiabilité des semi-conducteurs. Il combine optique avancée, logiciel sophistiqué, et Lightning Wafer Inspection technologie pour inspecter les défauts avec une précision de niveau micron. Le système est équipé d'une caméra CCD haute résolution et d'une optique télécentrique pour capturer les images du masque ou de la plaquette avec un champ de vision allant jusqu'à 8mm x 8mm. L'optique télécentrique corrige la distorsion géométrique causée par une vue angulaire, ce qui permet une meilleure qualité d'image et une meilleure précision de détection. L'unité dispose également d'un profileur Infinity Focus Beam, qui crée un plan d'imagerie au point focal de l'optique, créant une carte de profil laser 3D de la surface inspectée. KLA 2132 dispose d'une machine de contrôle avec une interface graphique conviviale et des algorithmes d'auto-détection. L'outil permet la configuration en un seul clic et le traitement rapide des surfaces scannées. Il intègre également une fonction d'auto-étalonnage, qui optimise les paramètres d'imagerie pour maintenir des niveaux élevés de précision de positionnement. En outre, l'actif est équipé d'une gamme de modules d'analyse de la qualité, des techniques intelligentes qui analysent les défauts complexes et génèrent des mesures de défauts détaillées et des rapports d'analyse. Cela comprend la comparaison die-to-die, la cartographie des couleurs et l'analyse des anneaux pour la détection et la classification des défauts. Les autocollimateurs TENCOR 2132, un réseau de miroirs et de lentilles, permettent de corriger l'aberration, éliminant le besoin d'alignement optique manuel. Le modèle intègre également une option d'intégration sur pas, qui permet une inspection haute résolution d'une plaquette en temps réel pendant l'exposition sur pas, permettant une surveillance rapide et précise des défauts. 2132 donne aux fabricants de semi-conducteurs la capacité d'inspecter à l'échelle micro pour identifier et atténuer les pertes de rendement et les défauts de production. En plus de fournir des images claires et détaillées, l'équipement offre une détection et une classification automatisées des défauts, permettant aux fabricants d'améliorer à la fois la qualité et la fiabilité de leurs produits.