Occasion KLA / TENCOR 2132 #293818647 à vendre en France

KLA/TENCOR 2132 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Ce système offre des capacités complètes d'inspection des défauts, permettant aux utilisateurs d'identifier et de catégoriser les types de défauts critiques. L'unité combine une variété de technologies optiques, électriques et d'imagerie qui lui permettent de fournir une imagerie haute résolution et une classification automatisée des défauts à des vitesses allant jusqu'à 1 000 wafers par heure. L'UCK 2132 comprend deux composantes principales, la colonne de métrologie et la colonne d'inspection. La colonne de métrologie comprend des technologies avancées de détection de la lumière, lui permettant de détecter et de mesurer des caractéristiques jusqu'à 2nm. Cela garantit que la machine peut mesurer et surveiller avec précision les caractéristiques propres au processus jusqu'à l'échelle nanométrique. La colonne d'inspection est conçue pour capturer des images à haute résolution des îles, des lignes et des vias. Il est ensuite traité par des algorithmes en ligne pour identifier automatiquement les défauts de cause à effet et les classer en diverses catégories telles que les défauts de particules, de caractéristiques ou de lignes. L'outil intègre également des capacités de reconnaissance et de classification des défauts conçues pour réduire le temps d'inspection. Grâce à des algorithmes avancés d'appariement de motifs et de reconnaissance de fonctionnalités, TENCOR 2132 peut identifier les défauts de cause à effet, ainsi que reconnaître les anomalies de fonctionnalités de tous les types de défauts. De plus, les procédés chimiques et les réglages de température peuvent être surveillés à distance pendant que l'actif fonctionne. 2132 offre plusieurs fonctionnalités qui permettent à l'utilisateur de personnaliser les inspections en fonction de ses besoins spécifiques. Le modèle comprend une interface graphique intuitive, qui permet aux utilisateurs de choisir rapidement les paramètres et paramètres pour adapter les critères d'inspection à l'application spécifique de l'utilisateur. En outre, l'équipement a la capacité de stocker des paramètres fréquents et de les rappeler facilement, permettant aux utilisateurs de reproduire rapidement les résultats. Le système comprend également une unité intégrée de suivi des défauts qui permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les données sur les défauts dans un seul rapport de suivi. La performance globale de la machine est améliorée grâce à des capacités avancées de gestion des données. Cela inclut des fonctions complètes de stockage et de récupération de données et la capacité d'intégrer de manière transparente les données de défauts provenant de multiples sources et générations de plaquettes. Toutes les données générées par l'outil KLA/TENCOR 2132 sont stockées dans une base de données spéciale pour une analyse et un archivage plus poussés. En résumé, KLA 2132 est un outil d'inspection de masque et de plaquettes très avancé et capable qui est conçu pour l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Ce modèle est capable de fournir une imagerie rapide, haute résolution et une classification automatisée des défauts à des vitesses de 1 000 wafers par heure. Il offre une interface graphique intuitive, des capacités avancées de gestion des données et des critères d'inspection personnalisables, permettant aux utilisateurs d'adapter leurs inspections à leurs besoins spécifiques.