Occasion KLA / TENCOR 2132 #9181746 à vendre en France

KLA / TENCOR 2132
ID: 9181746
Wafer defect inspection system.
KLA/TENCOR 2132 est un équipement haut de gamme d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour inspecter rapidement et avec précision les défauts de détection des masques et des plaquettes semi-conducteurs par reconnaissance optique et analyse d'image. Il est capable de détecter divers types de défauts de motifs, depuis des imprécisions dans les largeurs de lignes, les motifs et les combinaisons, jusqu'à la présence de matières étrangères, telles que des particules, des résidus et des rayures. Ce système utilise une unité d'éclairage avancée et une technologie de reconnaissance d'image développée par KLA. La machine d'éclairage utilise une combinaison de sources lumineuses de faible et de haute intensité pour la capture d'image, ainsi que des sources d'éclairage supplémentaires qui permettent au mécanisme de mise au point automatisé de capturer parfaitement des images vives malgré la présence de variation de puissance dans les substrats. Le logiciel d'analyse et d'identification d'images est également très sophistiqué. Une combinaison d'algorithmes et de techniques d'analyse, comme la détection des bords, les mesures d'intensité et les opérations de filtrage sont utilisés pour identifier les défauts avec un degré élevé de précision. Cet outil peut identifier les défauts de l'ensemble de la plaquette ou masquer la carte jusqu'à la résolution d'un pixel. Il est également capable de détecter avec précision même de légers changements dans les zones structurées. Le logiciel comprend également une série d'outils pour visualiser, analyser et rendre compte des résultats de l'inspection. Cela permet aux utilisateurs de partager rapidement et facilement leurs résultats avec d'autres membres du processus de fabrication des semi-conducteurs. L'actif comprend également un large éventail de paramètres avancés qui peuvent être personnalisés en fonction des besoins des utilisateurs. KLA 2132 est un modèle d'inspection de masque et de plaquettes très fiable et polyvalent. Il fournit des résultats précis et fiables tout en éliminant le besoin de processus manuels. Les capacités de détection et d'analyse avancées, associées aux puissantes capacités de visualisation et de reporting, en font une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à identifier et à éliminer les défauts de marquage de leurs produits.
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