Occasion KLA / TENCOR 2132 #9277331 à vendre en France

KLA/TENCOR 2132 masque and wafer inspection equipment est un appareil d'imagerie et d'inspection entièrement automatisé utilisé pour détecter les défauts avec une haute précision et résolution sur des substrats aussi minces que 200 nanomètres (nm) d'épaisseur. Le système combine l'imagerie optique automatisée, l'éclairage et l'inspection de jusqu'à 60 sites d'essai en parallèle. KLA 2132 utilise la technologie des capteurs de pixels haute résolution pour capturer des images de la surface du masque/plaquette et les comparer à un ensemble de paramètres de défaut pré-programmés. TENCOR 2132 dispose également de la technologie avancée AASIS-TACT (Advanced Automated Structural Inspection Unit - Ternary Aerochip Trias) qui examine les caractéristiques microscopiques avec une grande sensibilité. AASIS-TACT a été spécialement conçu pour inspecter avec une grande précision les dispositifs de comptage des broches. Il isole, mesure et caractérise automatiquement les défauts sur le substrat à l'aide d'une analyse tridimensionnelle des formes d'onde. Cela donne 2132 une façon automatisée de scanner et de mesurer des critères tels que la taille des défauts, la forme, la surface et la pente des bords pendant l'inspection. La machine est capable de débit rapide, fournissant jusqu'à 8 plaquettes par heure, et est équipée d'un outil intégré de détection de points de vue BGA. Cela permet d'analyser les échecs le plus rapidement possible. KLA/TENCOR 2132 dispose également d'une capacité Auto-Match pour la mesure rapide des masques avec des images similaires. L'actif est hautement automatisé et convivial, nécessitant une entrée minimale de l'opérateur. Il est soutenu par un support technique complet et possède la fiabilité et la flexibilité nécessaires pour répondre aux demandes toujours changeantes de l'industrie. KLA 2132 masque et wafer inspection modèle offre haute performance, volatilité et précision, dans un emballage économique et convivial, ce qui en fait une solution idéale pour l'imagerie automatisée et l'analyse des défauts.