Occasion KLA / TENCOR 2133 #293749246 à vendre en France

KLA/TENCOR 2133 Masque et Wafer Inspection Equipment est une solution d'inspection complète pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs qui connaissent les défauts et la contamination. Il combine une excellente vitesse et résolution d'inspection avec une qualité d'image précise, lui permettant de détecter et de corriger les défauts plus rapidement et avec une plus grande précision que les autres instruments optiques classiques. Utilisant des capteurs haute performance et de l'électronique, KLA 2133 Masque et Wafer Inspection System surveille et capture des images proches du champ de petits défauts et contaminants sur la surface d'un appareil. Ses algorithmes informatiques rapides à la foudre identifient, quantifient et classent les problèmes à l'échelle du nanomètre tels que l'expansion du CD, la rugosité et les défauts de revêtement. Sa technologie d'inspection à haute puissance (HPIT) offre une qualité d'image supérieure, et ses capacités de reconnaissance de motifs supérieures aident à détecter et à classer les défauts aussi petits que 1,2 µm. TENCOR 2133 Masque et Wafer Inspection Unit utilise l'analyse automatisée pour saisir les données exactes de défaut efficacement, puis rendre instantanément une carte de défaut des zones échantillonnées. Sa précision de cartographie tridimensionnelle des contours de surface atteint une valeur sans précédent de 3,2nm, et sa machine avancée de révision des défauts assure des transitions harmonieuses entre les étapes d'analyse et de manipulation des défauts. L'outil offre également une mesure précise des caractéristiques optiques, telles que le gradient réfléchissant et l'homogénéité de surface. La combinaison ultime de vitesse, de résolution et de qualité d'image permet une surveillance des défauts très efficace, permettant aux fabricants d'identifier, quantifier et corriger rapidement les défauts de leurs produits. 2133 Masque et Wafer Inspection Les puissantes capacités d'imagerie et les algorithmes de classification des défauts, font de ce modèle l'outil de prise de décision parfait pour l'industrie des semi-conducteurs. Avec sa vitesse et sa résolution inégalées, l'équipement est une solution très fiable et rentable pour identifier et éliminer les défauts des dispositifs semi-conducteurs avec une précision et une confiance totales.