Occasion KLA / TENCOR 2138 #293767168 à vendre en France

KLA/TENCOR 2138 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes utilisé pour détecter les défauts dans les plaquettes semi-conductrices. Le système peut inspecter les images des masques et des plaquettes dans différents formats, y compris les images haute résolution, les images des masques défocalisés et l'inspection structurelle des plaquettes. L'unité comprend deux composantes : le sous-système d'inspection des masques (SIM) et le sous-système d'inspection des Wafer (WIS). Le MIS peut inspecter les masques monocouche et multicouche pour détecter les défauts, tels que le désalignement, les imperfections et les couches manquantes ou supplémentaires. Il prend également en charge la conception de masques personnalisés et les algorithmes d'inspection complexes, tels que l'attribution de niveaux multiples de sensibilité aux défauts ou la spécification de niveaux seuils pour les défauts. Le WIS peut inspecter les plaquettes à motifs pour détecter les défauts en se basant sur une variété de techniques d'imagerie et d'analyse pour fournir des commentaires sur les problèmes de performance. Cela comprend l'inspection des plaquettes monocouches et multicouches pour détecter les défauts structurels, tels que les motifs manquants et les désalignements, ainsi que les motifs anormaux et la rugosité des bords. Il prend également en charge les conceptions de masques personnalisés et les méthodes de reconnaissance des formes pour aider à identifier les erreurs. La machine dispose de plusieurs comptes de défauts, tels que le type de plaquette, la taille de la matrice et le compte de la matrice. L'outil est également capable de cartographier différents types de défauts à des passes ou des échecs individuels, et peut également être utilisé pour inspecter plusieurs plaquettes sur un seul actif. En outre, le modèle supporte des interfaces standard, telles que l'EDA, TLA et OCR, permettant l'interopérabilité avec une variété d'autres systèmes. KLA 2138 est un outil puissant pour analyser la qualité des motifs des plaquettes et inspecter les masques, contribuant à garantir la plus haute qualité des plaquettes semi-conductrices. Avec des capacités supérieures de détection des défauts et une inspection personnalisable des masques, TENCOR 2138 est parfait pour toute organisation cherchant à garantir la meilleure qualité dans leurs produits semi-conducteurs.