Occasion KLA / TENCOR 219 SWD #293635821 à vendre en France

KLA/TENCOR 219 SWD est un équipement avancé d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'assurance qualité dans la fabrication de semi-conducteurs. Ce système multi-capteurs est capable de détecter des défauts au niveau du nanomètre et de manipuler des plaquettes jusqu'à 300mm. La KLA 219 SWD est conçue pour des applications en ligne et équipée de quatre optiques de champ lumineux et de trois optiques de champ sombre. Cela lui permet de détecter des défauts inférieurs à 5nm sur des couches de silicium avec une sensibilité et un débit de 50 plaquettes par heure. Un algorithme vidéo Flex propriétaire de pointe garantit des résultats d'inspection plus complets et précis. L'unité dispose d'outils d'imagerie et de métrologie de pointe, tels que KLA Image Navigation Machine (INK) pour obtenir une inspection de la plus haute qualité des défauts, des mesures de précision de placement des bords, et des inspections avancées des masques. Il est également équipé de méthodes de segmentation avancées qui lui permettent de distinguer les défauts réels des fausses alarmes. De plus, les paramètres d'inspection des plaquettes peuvent être ajustés à distance et en temps réel via le Global Remote Tool (GRS) de l'entreprise. TENCOR 219SWD dispose d'une interface utilisateur écran tactile qui permet aux opérateurs de commuter facilement entre les systèmes, d'ajuster les paramètres d'inspection et de visualiser les données de mesure. L'interface utilisateur offre également un accès en un clic aux options avancées de révision automatique des défauts (ADR) et d'imagerie avancée, ainsi que des mesures automatisées de précision de placement des bords et des algorithmes définis par le client pour une inspection personnalisée. 219SWD offre une variété de technologies d'inspection intelligentes spécialisées, telles que la détection des défauts de surface, l'inspection des masques et des plaquettes, la mesure des contraintes et l'inspection die-to-die. Il est construit avec la sécurité et la propreté à l'esprit, et est adapté pour 200, 300, et 450mm wafer tailles. En fin de compte, KLA/TENCOR 219SWD est un outil d'inspection technologiquement avancé et fiable qui offre la meilleure précision, répétabilité et efficacité lors de la détection de défauts au niveau d'un nanomètre. Son large éventail de fonctionnalités, ses fonctions automatisées et son interface utilisateur en font un choix idéal pour l'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs.