Occasion KLA / TENCOR 2318 #9189833 à vendre en France

KLA / TENCOR 2318
ID: 9189833
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 2318 est un système automatisé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour identifier rapidement les défauts et les défauts de fabrication des puces semi-conductrices. Ce système d'inspection est basé sur la microscopie à champ lumineux, une forme de microscopie numérique éclairée optiquement contre un fond blanc ou autre couleur de lumière pour améliorer le contraste. KLA 2318 peut agrandir les puces jusqu'à 2400x, avec une grande précision grâce au capteur d'image et aux processeurs intégrés. Ses capacités lumineuses, d'éclairage uniforme et de grossissement élevé garantissent que tout défaut dans le masque et la plaquette sera facilement visible. En outre, TENCOR 2318 dispose d'une importante bibliothèque d'algorithmes de défauts, ce qui lui permet de classer les défauts spécifiques avec plus de précision que l'inspection manuelle. 2318 est capable de régler automatiquement le champ de vision et la taille de l'image pendant le processus d'inspection, ce qui permet une inspection approfondie des caractéristiques complexes. Ce champ de vision réglable permet également de passer rapidement d'images ouvertes à des images fermées. De plus, KLA/TENCOR 2318 dispose d'un microscope optique avec étage motorisé intégré pour faciliter le positionnement précis et la manipulation de la plaquette, en assurant que chaque surface de la puce peut être inspectée. KLA 2318 dispose également d'une gestion multi-canaux, permettant aux utilisateurs de visualiser et d'inspecter de nombreuses images sur plusieurs canaux et sous-canaux. TENCOR 2318 offre également une productivité améliorée, avec un temps de configuration exceptionnellement rapide et une variété de fonctions avancées d'analyse d'image, ainsi qu'un outil de visualisation 3D pour les inspections les plus détaillées. Dans l'ensemble, 2318 est un outil puissant pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il permet une évaluation rapide et précise des caractéristiques complexes des puces, ainsi qu'une variété de capacités d'inspection avancées. En combinant une microscopie de champ lumineux de pointe avec une analyse d'image avancée, KLA/TENCOR 2318 est un atout pour tout service de R-D à semi-conducteurs ou installation de fabrication.
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