Occasion KLA / TENCOR 2350 #9254021 à vendre en France

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KLA / TENCOR 2350
Vendu
ID: 9254021
Taille de la plaquette: 8"-12"
High-resolution imaging inspection system, 8"-12".
KLA/TENCOR 2350 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour les exigences les plus exigeantes de la fabrication de semi-conducteurs. Avec son système optique avancé, des performances d'imagerie supérieures et une détection intégrée des particules, KLA 2350 fournit une solution complète pour l'inspection des défauts et la métrologie. TENCOR 2350 utilise des caméras d'imagerie haute vitesse et haute résolution pour capturer une image de champ lumineux du masque ou de la plaquette. Ces images détaillées sont ensuite analysées en temps réel pour détecter les défauts, y compris les variations de motifs, la largeur des lignes et d'autres non-conformités. L'unité intègre également une machine sophistiquée de détection de particules, lui permettant de détecter des particules même sur les surfaces les plus complexes. 2350 dispose d'un outil optique avancé capable de délivrer à la fois des ouvertures numériques élevées et des grossissements élevés. Cette combinaison de caractéristiques est exceptionnellement bien adaptée pour l'inspection des caractéristiques de masque et de plaquette. De plus, l'éclairage comprend une configuration avant et arrière, permettant une visualisation optimale des caractéristiques géométriques, des contaminants de surface et des défauts. KLA/TENCOR 2350 est alimenté par un modèle de traitement numérique du signal hautement sensible. Cet équipement utilise des algorithmes pour effectuer la classification des défauts et pour produire des mesures de défauts très précises. Le système fonctionne également en boucle fermée, permettant une surveillance continue des défauts et améliorant la précision globale de l'inspection. KLA 2350 est capable de mesurer une variété de caractéristiques, y compris les largeurs de ligne, les angles de flanc, et d'autres défauts liés au motif. L'unité peut également être utilisée pour détecter des particules et des matériaux étrangers, ainsi que pour calculer la précision de recouvrement. Les capacités de déclaration avancées permettent également aux utilisateurs de stocker des données pour une recherche facile, de générer des rapports en temps réel et de communiquer les résultats avec d'autres outils. Dans l'ensemble, TENCOR 2350 est une puissante et fiable machine d'inspection de masque et de plaquettes qui est conçu pour répondre aux exigences les plus difficiles de la fabrication de semi-conducteurs. Avec son optique avancée, ses capacités d'imagerie supérieures, son outil de traitement numérique du signal et sa détection intégrée des particules, 2350 fournit une solution complète pour l'inspection des défauts et la métrologie.
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