Occasion KLA / TENCOR 2552 #293659802 à vendre en France

KLA / TENCOR 2552
ID: 293659802
Defect measuring instrument.
KLA/TENCOR 2552 est un puissant équipement d'inspection de masque et de plaquettes qui a été conçu pour accueillir une variété d'applications de semi-conducteurs. Il est conçu avec une architecture à haut débit pour faciliter des systèmes d'inspection rapides et fiables. KLA 2552 est équipé d'un système d'imagerie haute performance automatisé pour permettre l'imagerie haute définition à des vitesses allant jusqu'à 273 images en ligne/seconde et des vitesses de transfert d'image de port à port allant jusqu'à 546 Mbps. L'unité est basée sur un capteur d'image CMOS avec une caméra de balayage de ligne de 12 bits à 3 touches et un numériseur de niveau gris 256 capable d'inspecter avec précision de petites fonctionnalités. En outre, la machine est conçue pour être adaptable et configurable à une variété de besoins d'imagerie et peut être facilement installée et exploitée avec des exigences minimales de configuration et de maintenance. L'outil est équipé d'une variété de caractéristiques, y compris la suppression du fond multimode, la méthode automatisée de classification des défauts, la collecte des détails des défauts dans un vaste champ de vision et l'imagerie au microscope à champ de vision variable. Des méthodes d'examen telles que la visualisation des défauts, le rejet des faux défauts, la récupération des données des points chauds, la gestion des défauts documentés et des méthodes supplémentaires peuvent être utilisées avec TENCOR 2552 pour accroître la fiabilité et la cohérence de l'imagerie et de l'inspection. 2552 fournit également une gamme de fonctions ergonomiques telles que la conception inclinée, une fenêtre d'inspection facile d'accès, et joystick ergonomique avec un repose-poignet confortable pour réduire la fatigue. En outre, l'actif dispose d'une interface utilisateur graphique qui aide à améliorer l'expérience utilisateur, permettant une navigation intuitive des commandes et des paramètres. KLA/TENCOR 2552 a une variété de capacités qui le rendent bien adapté aux applications semi-conductrices. Cela comprend la détection des défauts sous-pixel et le suivi automatisé des défauts, la base de données et l'analyse intégrée des défauts, et une foule d'autres fonctionnalités. De plus, KLA 2552 combine une résolution, une vitesse et une robustesse exceptionnelles pour en faire l'un des meilleurs choix pour l'inspection des masques et des plaquettes.
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