Occasion KLA / TENCOR 3200-1225-03B #9294183 à vendre en France

Le masque KLA/TENCOR 3200-1225-03B et l'équipement d'inspection des plaquettes est un outil de haute performance capable d'inspecter les plaquettes pour détecter les défauts, permettant un réglage rapide et précis de la position des matrices sur un masque ou une plaquette pour les processus de lithographie. Le système est conçu pour inspecter des plaquettes d'une largeur de ligne de 25 µm à 1,2 mm et des mesures avec une précision de +/- 0,25 µm. L'unité comprend une matrice de 8 pouces pour masquer la répétabilité de +/- 0,05 mm x 0,12 mm, une matrice de 12 pouces pour masquer la répétabilité de +/- 0,04 mm x 0,13 mm, et une répétabilité multicouche de +/- 0,02 mm x 0,06 mm. La machine KLA 3200-1225-03B est équipée d'un scanner laser à double sonde haute vitesse avec un algorithme de tracé de pas et de répétition. Cet outil de numérisation et de tracé peut déplacer le faisceau laser rapidement sur toute la surface du masque ou de la plaquette et détecter et traiter avec précision les défauts. L'actif utilise ensuite la technologie KLA exclusive de reconnaissance optique des caractères (OCR) pour identifier et mesurer les caractéristiques sur le masque ou la plaquette pour les comparer aux normes de référence. En outre, le modèle TENCOR 3200-1225-03B est équipé d'un logiciel d'imagerie et de suivi spécialisé, permettant des technologies d'enregistrement portables pour assurer un alignement précis des masques sur les plaquettes et vice versa. Cette technologie assure un positionnement correct et un alignement exact des données de motifs, ce qui résout le problème de la génération de motifs offset. Le design de bord incliné unique d'équipement 3200-1225-03B contribue plus loin à son exactitude, puisqu'il est capable d'exactement localiser la disposition de dessin intérieure. KLA/TENCOR 3200-1225-03B offre également des outils d'analyse et de communication de données de pointe, qui recueillent et produisent des rapports complets sur les résultats des inspections. Cela permet aux clients de faire des ajustements en temps réel des opérations de production, en assurant le plus haut niveau d'assurance qualité. En conclusion, le système KLA 3200-1225-03B masque et wafer inspection est un outil très avancé capable d'offrir un large éventail de capacités de collecte et d'analyse de données. Il est conçu pour une inspection précise et précise des masques et des plaquettes, offrant aux clients l'assurance de produits de haute qualité.