Occasion KLA / TENCOR 7200 #293662762 à vendre en France

KLA / TENCOR 7200
ID: 293662762
Taille de la plaquette: 8"
Wafer inspection system, 8".
KLA/TENCOR 7200 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes conçu pour l'inspection optique avancée des masques et plaquettes. Le système est capable d'effectuer diverses mesures de précision pour l'inspection des plaquettes en cours de fabrication ou en phase finale, et il a la capacité d'inspecter divers matériaux et technologies, y compris la lithographie, la résistance et les défauts liés à la conception. L'optique avancée de KLA 7200 fournit une image de haute qualité adaptée à l'examen critique et l'analyse. TENCOR 7200 utilise une unité d'inspection optique avancée basée sur l'image avec quatre mégapixels linescan couleur/framescan caméras hybrides. Cette machine d'inspection combine l'imagerie visible et proche infrarouge pour détecter les micro-défauts de surface à haute résolution. De plus, toutes les images sont affectées par une gamme de paramètres réglables, y compris la dynamique, la luminosité, le gain et le contraste, afin d'assurer la meilleure qualité d'image et les capacités de détection des défauts. La technologie d'analyse d'image de l'outil est conçue pour identifier et analyser une variété de défauts associés à la lithographie, la résistance et les erreurs de conception. Sa suite logicielle exclusive permet une programmation facile et une rétroaction en temps réel, rendant l'actif très flexible et puissant. En outre, son modèle de gestion automatisée des plaquettes de pointe garantit des résultats reproductibles, tandis que sa fonction de classification automatisée des défauts fournit un cadre pour une analyse rapide et efficace des défauts. 7200 fournit également une gamme de fonctionnalités avancées qui garantissent la précision et l'efficacité, y compris le réglage automatique de la focale, la compensation de la distorsion des lentilles, la reconnaissance des motifs et l'identification automatisée des défauts. Son optique avancée permet à l'équipement de fonctionner dans des environnements d'éclairage uniformes et non uniformes. De plus, il offre une compatibilité directe avec les systèmes de métrologie tels que les microscopes électroniques à balayage (SEM) et les interféromètres omnidirectionnels à balayage de lumière blanche (SWLI) pour une analyse plus approfondie. En outre, le système peut être logé dans une variété de petits paquets, ce qui le rend économique, facilement configurable et portable. Il est compatible avec une gamme de moniteurs, et son interface conviviale permet aux opérateurs de changer rapidement et facilement les paramètres et de revoir les données. En résumé, KLA/TENCOR 7200 est une unité avancée d'inspection des masques et des plaquettes conçue pour permettre une variété de mesures de précision pour l'inspection des plaquettes en cours ou en phase finale. Il offre une gamme de fonctionnalités avancées, telles que la gamme dynamique, la luminosité, le gain, le réglage de contraste et le réglage automatique de la focale, et il est capable de détecter une variété de lithographie, de résister, et les erreurs liées à la conception. Avec son optique avancée et sa machine de manutention automatisée des plaquettes, l'outil est capable de fournir des résultats reproductibles avec une grande précision. Enfin, sa conception flexible permet à l'actif de s'adapter facilement à une gamme d'environnements et d'applications.
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