Occasion KLA / TENCOR Archer 10 XT+ #9261900 à vendre en France

KLA Archer™ 10 XT + est un équipement entièrement automatisé et haut de gamme pour l'inspection des masques et des plaquettes. Ce système est conçu pour les applications avancées de fabrication IC pour détecter les défauts à la fois dans les photomasques et les plaquettes. KLA/TENCOR Archer 10 XT + utilise une technologie d'imagerie haute résolution qui fournit une qualité d'image élevée et une focalisation nette pour détecter de minuscules défauts sur les surfaces. Il dispose d'une unité de métrologie automatisée qui peut mesurer et analyser une grande variété de modèles et de caractéristiques. L'étage moteur linéaire à 5 axes, piloté par le logiciel, permet une manipulation rapide et précise des masques et des plaquettes. L'outil est équipé d'un scanner interférométrique laser qui fournit jusqu'à 10 milliards de points de mesure par plaquette. Il dispose également d'une tête d'inspection au laser, ultra-étroite, avec une zone de microscope éclairée qui peut être utilisée pour le balayage à haute résolution pour détecter les défauts critiques. KLA Archer 10 XT + utilise une technologie de reconnaissance d'image puissante pour identifier les défauts. Son actif de traitement d'analyse d'imagerie (IAPS) peut automatiquement produire des données sur l'état des défauts, et il peut détecter des particules minuscules, des rayures et des particules minuscules provenant de la contamination du procédé. De plus, la fonction de diagnostic à distance du modèle fournit un accès à distance pour l'évaluation de l'information sur les défauts, le diagnostic des défauts et la surveillance de l'état du fonctionnement de l'équipement. Enfin, TENCOR Archer 10 XT + offre une capacité d'étalonnage rapide qui permet des résultats précis et quantifiables avec un temps d'arrêt minimal. Son équipement d'étalonnage automatisé de haute précision permet de mesurer l'alignement de l'optique et du système d'étage mécanique afin d'assurer la précision et la répétabilité les plus élevées. L'unité est capable de fournir une solution d'inspection robuste pour diverses applications. Il peut inspecter les besoins les plus exigeants en matière d'inspection intégrée des défauts, y compris les défauts de niveau micron et l'inspection basée sur les motifs, ainsi que graver et résister aux défauts connexes. Sa technologie et ses caractéristiques haut de gamme peuvent garantir une détection rapide et précise des défauts, ainsi qu'une plus grande stabilité du processus et des rendements plus élevés.