Occasion KLA / TENCOR Archer 10 #9205450 à vendre en France

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ID: 9205450
Overlay inspection system, 8" Does not have KLASS computer Halogen light source: Halogen lamp (HLS) P/N: 127-483105-000 (X) PDA Gain: X, Y Axis Wafer surface focus and analysis patened LINNIK Camera uniformity AMS Camera uniformity GEM/SECS Fringes: ON to OFF mean time OFF to ON mean time Line conditioner: 60 Hz Power: 208/230 V, 3 Phase/1 Phase 50/60 Hz Noise test: AMS Camera noise level: 0.68 GL Light map: 30 Min 50 BP (LINNIK) 12K BP (AMS 12K µm FOV) PDA: PDA Gain: 2527 GL PDA X Axis centering current signal: 653 PDA Y Axis centering current signal: 648 System: Check shutter response time Fringes ON to OFF mean time: 65.3 msec 20<x<80 Fringes OFF to ON mean time: 44.5 msec 20<y<80 Check translation vector: Co-ordinate: x: 1848.9 µm Y: 61496.6 µm Z: 707.2 µm 2004 vintage.
KLA/TENCOR Archer 10 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes de pointe utilisé pour détecter et mesurer les défauts sur les photomasques, plaquettes et autres substrats agnostiques de plate-forme. Le système est chargé avec la technologie avancée d'imagerie émissive luminescence (EIL) et utilise des images de champ lumineux et de champ sombre pour détecter et analyser les défauts avec haute résolution. Il fournit une révision rapide, très précise et automatisée des défauts, donnant aux utilisateurs un débit et des performances inégalés. L'unité KLA Archer 10 est conçue pour être efficace dans une gamme d'applications et de processus, en travaillant avec des surfaces planes et courbes. Il peut détecter les défauts causés par la lithographie, la gravure, le dépôt, le dépôt et les dommages diélectriques. Il en résulte une détection et une classification des défauts plus rapides et plus précises, aidant les clients à réduire leurs coûts liés aux défauts. La combinaison de l'imagerie haute résolution, de l'examen automatisé des défauts et de la documentation complète sur les défauts fait de TENCOR ARCHER10 un outil puissant pour les environnements industriels les plus exigeants. Il peut facilement s'intégrer à d'autres dispositifs tels que des solutions logicielles de contrôle des défauts pour une analyse précise des données en temps réel. La machine TENCOR Archer 10 est capable d'identifier rapidement et avec précision les défauts grâce à l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre. Cela permet des résultats fiables et reproductibles et une analyse rapide des défauts. Son imagerie multicouche de pointe garantit la précision et la vitesse. Le logiciel convivial de l'outil le rend facile à utiliser, et ses fonctionnalités avancées garantissent une précision maximale. La suite d'automatisation ARCHER10 offre une configuration facile et une analyse de données flexible, et son scanner d'échantillons 3D intégré et le moteur d'inspection permettent un traitement à haut débit des plaquettes et des substrats. KLA ARCHER10 fournit également des images de défaut étonnamment détaillées. Son logiciel peut analyser et afficher les défauts en détail, permettant aux utilisateurs de zoomer pour évaluer les tailles et les formes des défauts. Il dispose également d'un outil d'identification des défauts basé sur le filtre qui peut filtrer les défauts faux, permettant aux utilisateurs d'être sûrs qu'ils voient des résultats exacts. En outre, l'actif assure un contrôle complet des défauts. Des fonctionnalités telles que la déclaration des défauts et l'analyse des défauts, ainsi que le RCP en temps réel, permettent aux utilisateurs d'identifier, de classer et de surveiller rapidement les tendances des défauts. Dans l'ensemble, l'Archer 10 de KLA est un modèle avancé de masque et d'inspection de plaquettes à grande vitesse. Avec son logiciel intuitif, son imagerie multicouche, son examen automatisé des défauts et son contrôle complet des défauts, KLA/TENCOR ARCHER10 offre un débit et des performances inégalés pour les environnements industriels.
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