Occasion KLA / TENCOR Archer 10 #9237503 à vendre en France

KLA / TENCOR Archer 10
ID: 9237503
Taille de la plaquette: 8"
Overlay measurement system, 8" SMIF.
KLA/TENCOR Archer 10 est un équipement haut de gamme de masque et d'inspection de plaquettes conçu pour fournir des mesures fiables et précises de photomasques et de plaquettes utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs. Le système est capable de mesurer de très petites caractéristiques avec un haut degré de précision. Il est également capable d'effectuer des mesures de structures tridimensionnelles complexes. La composante centrale de KLA Archer 10 est un réseau linéaire de sources lumineuses de haute puissance et de filtres spectraux efficaces qui lui permettent d'imaginer et de détecter les variations d'intensité lumineuse et de couleur. La machine comprend également un outil optique appelé une « chicane de lumière parasite », qui élimine la diffusion des sources de lumière et assure que seules les caractéristiques de l'échantillon sont imagées. Une fois l'échantillon éclairé, les caractéristiques de l'échantillon sont détectées et l'actif peut mesurer leur taille, leur forme et leur position au moyen d'une analyse manuelle ou automatisée. Cette analyse comprend la détection d'irrégularités, telles que la formation de glissières, ainsi que la densité des particules, la fréquence des défauts des particules étrangères, la caractérisation des défauts et la cartographie de surface. Le modèle TENCOR ARCHER10 offre également des capacités de métrologie avancées, qui lui permettent de mesurer la hauteur, la largeur et la topographie des caractéristiques de l'échantillon. Il peut également mesurer la transmission et la réflectance de surfaces transparentes et opaques, ainsi que la couleur et la luminance de ces surfaces. En outre, l'équipement est livré avec une variété de logiciels de contrôle et d'acquisition de données qui permettent aux opérateurs d'effectuer des mesures automatiques ou manuelles complexes. Il comprend également une suite de logiciels d'analyse et d'imagerie, y compris une mise au point automatisée pour détecter les particules et les défauts d'imagerie. Le système Archer 10 est équipé d'une unité de vision à haute vitesse et offre une large gamme de dispositifs d'acquisition d'images et de détecteurs pour capturer des images d'échantillons à haute résolution. La machine peut également mesurer d'autres caractéristiques, telles que l'uniformité die-to-die, et peut être utilisée pour évaluer plusieurs échantillons en une seule session. Avec une conception robuste et des capacités d'imagerie avancées, ARCHER10 est un impressionnant masque et un outil d'inspection de plaquettes qui peut fournir des mesures fiables et précises. Il offre une analyse rapide, efficace et précise, ce qui en fait un choix idéal pour la fabrication de semi-conducteurs.
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